| 第一章 引言 | 第1-14页 |
| 1．1 前言 | 第10页 |
| 1．2 国内外发展现状 | 第10-11页 |
| 1．3 项目来源及主要工作 | 第11-12页 |
| 1．4 主要技术参数 | 第12页 |
| 1．5 本论文的结构 | 第12-14页 |
| 第二章 功率放大器的线性化技术 | 第14-20页 |
| 2．1 反馈 | 第14-16页 |
| 2．2 前馈非线性校正 | 第16-17页 |
| 2．3 预失真 | 第17-18页 |
| 2．4 EER | 第18-19页 |
| 2．5 LINC/CALLUM | 第19-20页 |
| 第三章 射频功率放大器 | 第20-26页 |
| 3．1 A类射频功率放大器 | 第20-21页 |
| 3．2 B类射频功率放大器 | 第21页 |
| 3．3 AB类射频功率放大器 | 第21-22页 |
| 3．4 C类射频功率放大器 | 第22-23页 |
| 3．5 D类射频功率放大器 | 第23-24页 |
| 3．6 E类射频功率放大器 | 第24页 |
| 3．7 F类射频功率放大器 | 第24-25页 |
| 3．8 G类、H类射频功率放大器 | 第25-26页 |
| 第四章 数字音频功率放大器 | 第26-39页 |
| 4．1 数字音频放大器的组成及工作原理 | 第26-27页 |
| 4．2 A/D转换器 | 第27页 |
| 4．3 PCM/PWM变换器 | 第27-36页 |
| 4．4 驱动电路 | 第36-37页 |
| 4．5 半桥MOSFET开关放大电路 | 第37页 |
| 4．6 低通滤波器 | 第37-39页 |
| 第五章 Class-D载频放大器 | 第39-52页 |
| 5．1 概述 | 第39-40页 |
| 5．2 开关损耗 | 第40页 |
| 5．3 串通损耗 | 第40-41页 |
| 5．4 Cds损耗 | 第41页 |
| 5．5 采用Dead-Time减小串通损耗和Cds损耗 | 第41-44页 |
| 5．6 Dead-Time的选择 | 第44-47页 |
| 5．7 Dead-Time的实现 | 第47-48页 |
| 5．8 阻抗匹配 | 第48-52页 |
| 第六章 样机设计实现及指标测试 | 第52-64页 |
| 6．1 实施方案 | 第52-53页 |
| 6．2 样机设计实现 | 第53-60页 |
| 6．3 样机指标测试 | 第60-63页 |
| 6．4 测试结果分析 | 第63-64页 |
| 第七章 结论及下阶段工作 | 第64-68页 |
| 7．1 结论 | 第64-65页 |
| 7．2 下阶段工作 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 个人资料 | 第69页 |