| 第一章 交叉调试技术概论 | 第1-16页 |
| 1．1 基本概念和术语 | 第7-9页 |
| 1．1．1 交叉调试 | 第7-9页 |
| 1．1．2 交叉调试方式 | 第9页 |
| 1．2 发展回顾 | 第9-15页 |
| 1．2．1 Crash and Burn | 第9-10页 |
| 1．2．2 ROM Monitor | 第10-11页 |
| 1．2．3 ROM Emulator | 第11-12页 |
| 1．2．4 In-Circuit Emulator | 第12-13页 |
| 1．2．5 On Chip Debugging | 第13-14页 |
| 1．2．6 Simulator | 第14页 |
| 1．2．7 小结 | 第14-15页 |
| 1．3 本文主要工作 | 第15页 |
| 1．4 本文章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 交叉调试环境的构成 | 第16-20页 |
| 2．1 交叉调试系统的结构 | 第16-17页 |
| 2．1．1 ROM Monitor方式 | 第16-17页 |
| 2．1．2 BDM OCD方式 | 第17页 |
| 2．2 交叉调试过程 | 第17-20页 |
| 第三章 INSIGHT的结构分析 | 第20-65页 |
| 3．1 整体结构划分 | 第20-26页 |
| 3．1．1 层次结构 | 第21-23页 |
| 3．1．2 模块结构 | 第23-26页 |
| 3．2 详细分析 | 第26-64页 |
| 3．2．1 初始化模块 | 第26-35页 |
| 3．2．2 命令模块 | 第35-48页 |
| 3．2．3 件处理模块 | 第48-64页 |
| 3．3 小结 | 第64-65页 |
| 第四章 LGDB的总体设计 | 第65-73页 |
| 4．1 调试环境的构成 | 第65-66页 |
| 4．2 LGDB的结构 | 第66-71页 |
| 4．2．1 层次结构 | 第66-68页 |
| 4．2．1 模块结构 | 第68-71页 |
| 4．3 小结 | 第71-73页 |
| 第五章 LGDB的实现 | 第73-99页 |
| 5．1 TRA的实现 | 第73-76页 |
| 5．1．1 各模块的功能和关系 | 第74页 |
| 5．1．2 内核模块的实现 | 第74-76页 |
| 5．2 OS-Aware的实现 | 第76-85页 |
| 5．2．1 Host端的实现 | 第77-82页 |
| 5．2．2 Target端的实现 | 第82-85页 |
| 5．3 其他功能的实现 | 第85-99页 |
| 5．3．1 网络调试的实现 | 第85-91页 |
| 5．3．2 调试口切换的实现 | 第91-94页 |
| 5．3．3 Restart功能 | 第94-95页 |
| 5．3．4 Reload功能 | 第95-96页 |
| 5．3．5 Stop功能的实现 | 第96-99页 |
| 第六章 结束语 | 第99-100页 |
| 参考文献 | 第100-102页 |
| 致谢 | 第102页 |