| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·电阻抗成像技术简介 | 第8-14页 |
| ·EIT 成像的研究意义和应用领域 | 第8-11页 |
| ·EIT 成像算法国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·EIT 成像的问题及难点 | 第13-14页 |
| ·本文研究内容 | 第14-15页 |
| 2 电阻抗成像正问题研究 | 第15-29页 |
| ·EIT 正问题的电磁场近似 | 第16-18页 |
| ·EIT 正问题的数学模型 | 第18-20页 |
| ·连续模型 | 第18页 |
| ·间隙模型 | 第18-19页 |
| ·分流模型 | 第19-20页 |
| ·全电极模型 | 第20页 |
| ·全电极模型有限元法求解 | 第20-27页 |
| ·全电极模型的积分弱形式 | 第21-22页 |
| ·全电极模型有限元方程的导出 | 第22-25页 |
| ·系统矩阵的封装 | 第25页 |
| ·计算实验 | 第25-27页 |
| ·有限元剖分模型 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 3 开放式电阻抗成像建模及仿真研究 | 第29-39页 |
| ·开放式电阻抗成像的原理 | 第29-33页 |
| ·开放式EIT 的意义 | 第29-31页 |
| ·开放式EIT 的电磁场模型 | 第31-33页 |
| ·开放式电阻抗成像建模 | 第33-35页 |
| ·开放式EIT 场域设置 | 第33-34页 |
| ·开放式EIT 电流注入策略 | 第34-35页 |
| ·开放式EIT 正问题仿真 | 第35-38页 |
| ·改变目标水平位置 | 第36页 |
| ·改变目标深度 | 第36-37页 |
| ·改变目标区域电导率 | 第37页 |
| ·改变目标区域大小 | 第37-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 4 开放式电阻抗成像逆问题仿真及实验 | 第39-58页 |
| ·理论基础 | 第39-45页 |
| ·改进的Newton-Raphson 算法[14] | 第39-40页 |
| ·正则化算法 | 第40-45页 |
| ·开放式电阻抗成像逆问题仿真及实验 | 第45-55页 |
| ·混合正则化算法的思想 | 第45-47页 |
| ·混合正则化算法的仿真分析 | 第47-51页 |
| ·开放式EIT 逆问题仿真 | 第51-54页 |
| ·开放式水槽实验结果 | 第54-55页 |
| ·雅克比矩阵快速计算方法 | 第55-56页 |
| ·差分法 | 第55页 |
| ·补偿定理法 | 第55-56页 |
| ·标准法 | 第56页 |
| ·小结 | 第56-58页 |
| 5 开放式电阻抗成像平台及软件设计 | 第58-67页 |
| ·开放式电阻抗成像平台 | 第58-59页 |
| ·软件系统 | 第59-66页 |
| ·软件界面 | 第60-61页 |
| ·驱动方式设计 | 第61-62页 |
| ·上位机数据采集模块 | 第62-64页 |
| ·有限元剖分模型 | 第64-65页 |
| ·重建图像的显示 | 第65-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 6 结论及展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-77页 |
| 附录 | 第77页 |
| 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第77页 |