| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-28页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·ZnO压敏电阻 | 第15-24页 |
| ·电学特性 | 第16-17页 |
| ·主要电学性能参数 | 第17-18页 |
| ·微观结构 | 第18-20页 |
| ·导电机理 | 第20-21页 |
| ·制备工艺 | 第21-23页 |
| ·发展方向 | 第23-24页 |
| ·高电位梯度ZnO压敏电阻 | 第24-25页 |
| ·研究背景 | 第25页 |
| ·研究现状 | 第25页 |
| ·本论文的选题和主要研究内容 | 第25-27页 |
| ·高电位梯度片式ZnO压敏电阻的研制 | 第26页 |
| ·高电位梯度厚膜ZnO压敏电阻的研制 | 第26页 |
| ·复合电流模型的引入 | 第26-27页 |
| ·本论文的工艺路线 | 第27页 |
| ·本论文的课题来源 | 第27-28页 |
| 第二章 高电位梯度ZnO压敏电阻的制备工艺 | 第28-46页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·高电位梯度片式ZnO压敏电阻的制备工艺 | 第28-36页 |
| ·高能湿磨 | 第28-32页 |
| ·干压成型 | 第32-34页 |
| ·烧结成瓷 | 第34-36页 |
| ·制作电极 | 第36页 |
| ·高电位梯度厚膜ZnO压敏电阻的制备工艺 | 第36-41页 |
| ·高能湿磨 | 第38页 |
| ·浆料配制 | 第38页 |
| ·丝网印刷 | 第38-40页 |
| ·烧结成瓷 | 第40-41页 |
| ·电极引线 | 第41页 |
| ·高电位梯度ZnO压敏电阻的表征手段 | 第41-46页 |
| ·电学性能表征 | 第42页 |
| ·物相表征 | 第42-43页 |
| ·微观形貌表征 | 第43页 |
| ·应力表征 | 第43页 |
| ·介电性能表征 | 第43页 |
| ·高压稳压性能测试 | 第43-45页 |
| ·大电流冲击测试 | 第45-46页 |
| 第三章 高电位梯度片式ZnO压敏电阻的性能表征 | 第46-70页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·Y_2O_3掺杂对片式试样E_(1mA),I_L和α的影响 | 第46-48页 |
| ·Y_2O_3掺杂对片式试样高压稳压性能的影响 | 第48-50页 |
| ·ZnO压敏电阻中最佳Y_2O_3掺杂含量的理论计算 | 第50-51页 |
| ·烧结温度对片式试样E_(1mA),I_L和α的影响 | 第51-53页 |
| ·不同工艺条件下片式试样的物相结构 | 第53-55页 |
| ·不同工艺条件下片式试样的微观形貌 | 第55-58页 |
| ·不同工艺条件下片式试样的微观电学性能参数比较 | 第58-59页 |
| ·不同工艺条件下片式试样的直流老化性能比较 | 第59-60页 |
| ·大电流冲击下片式试样的电学性能 | 第60-63页 |
| ·多元稀土掺杂实验 | 第63-67页 |
| ·本章小结 | 第67-70页 |
| 第四章 高电位梯度厚膜ZnO压敏电阻的性能表征 | 第70-105页 |
| ·引言 | 第70-71页 |
| ·Y_2O_3掺杂对厚膜试样E_(1mA),I_L和α的影响 | 第71-73页 |
| ·不同Y_2O_3含量下厚膜试样的微观形貌 | 第73-74页 |
| ·不同Y_2O_3含量下厚膜试样的晶格畸变和内应力分析 | 第74-77页 |
| ·烧结温度对厚膜试样电学性能的影响 | 第77-80页 |
| ·不同烧结温度下厚膜试样的物相结构 | 第80-81页 |
| ·不同烧结温度下厚膜试样的微观形貌 | 第81-82页 |
| ·烧结温度对厚膜试样介电性能的影响 | 第82-85页 |
| ·烧结工艺的辅助性实验 | 第85-91页 |
| ·烧结温度对掺杂Er_2O_3厚膜试样电学性能的影响 | 第85-89页 |
| ·烧结时间对掺杂Er_2O_3厚膜试样电学性能的影响 | 第89-91页 |
| ·厚膜试样的高压稳压性能测试 | 第91-94页 |
| ·真空反复退火对厚膜试样的影响 | 第94-98页 |
| ·厚膜ZnO压敏电阻的单晶界导电模型 | 第98-102页 |
| ·本章小结 | 第102-105页 |
| 第五章 高电位梯度ZnO压敏电阻的理论模型 | 第105-112页 |
| ·引言 | 第105页 |
| ·ZnO压敏电阻预击穿区的导电理论 | 第105-108页 |
| ·高电位梯度ZnO压敏电阻预击穿区的理论分析 | 第108-110页 |
| ·高电位梯度片式ZnO压敏电阻预击穿区的复合电流效应 | 第110-112页 |
| 第六章 结论 | 第112-118页 |
| ·高电位梯度片式ZnO电阻的主要结论 | 第112-114页 |
| ·高电位梯度厚膜ZnO电阻的主要结论 | 第114-116页 |
| ·本论文的主要创新点 | 第116-117页 |
| ·未来研究的发展方向 | 第117-118页 |
| 附录 | 第118-119页 |
| 参考文献 | 第119-133页 |
| 致谢 | 第133-134页 |
