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柔性或透明Bi3.25La0.75Ti3O12铁电存储器的研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第10-19页
    1.1 引言第10-11页
    1.2 铁电材料第11-12页
    1.3 铁电存储器的特点及应用前景第12-13页
    1.4 柔性透明铁电薄膜的研究现状第13-16页
        1.4.1 有机/聚合物柔性铁电薄膜的制备第14-15页
        1.4.2 氧化物柔性铁电薄膜的制备第15-16页
    1.5 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)铁电薄膜及存储器件研究进展第16-18页
    1.6 课题的目的和意义第18-19页
2 铁电薄膜的制备工艺和表征手段第19-28页
    2.1 脉冲激光溅射沉积系统第19-20页
    2.2 磁控溅射镀膜技术第20-21页
    2.3 X射线衍射法第21-22页
    2.4 原子力显微镜第22-24页
    2.5 铁电测试系统第24-28页
3 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性铁电存储器的制备和表征第28-54页
    3.1 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)靶材的制备第28-30页
    3.2 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性薄膜的制备第30-36页
        3.2.1 柔性透明云母衬底的制备和结构表征第30-32页
        3.2.2 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性薄膜的制备和结构表征第32-36页
    3.3 平整状态下Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器的铁电性能表征第36-38页
    3.4 弯曲状态下Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能表征第38-45页
        3.4.1 弯曲半径2.2mm下Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能的表征第39-41页
        3.4.2 弯曲半径1.4 mm下Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能的表征第41-43页
        3.4.3 弯曲次数对Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能的影响第43-45页
    3.5 铁电极化翻转疲劳对Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能的影响第45-49页
        3.5.1 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器在弯曲2.2mm状态下的铁电疲劳测试第45-48页
        3.5.2 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器在弯曲半径1.4 mm状态下的疲劳测试第48-49页
    3.6 温度、辐射对Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能的影响第49-52页
        3.6.1 温度对Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能的影响第49-51页
        3.6.2 辐射对Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)柔性存储器铁电性能的影响第51-52页
    3.7 本章小结第52-54页
4 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明铁电存储器的制备和表征第54-69页
    4.1 透明AZO电极的制备第54-58页
        4.1.1 AZO靶材的制备第54-55页
        4.1.2 AZO电极的制备第55-58页
    4.2 采用透明AZO底电极制备Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器第58-60页
    4.3 采用透明ITO底电极制备Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器第60-64页
    4.4 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器的性能表征第64-69页
        4.4.1 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器的介电性能第64页
        4.4.2 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器对外加电场频率的响应规律第64-66页
        4.4.3 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器在变温下的铁电性能第66页
        4.4.4 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器在光照辐射下的性能表征第66-67页
        4.4.5 Bi_(3.25)La(0.75)Ti_3O_(12)透明存储器弯曲性能研究第67-69页
5 结论与展望第69-71页
    5.1 结论第69页
    5.2 展望第69-71页
致谢第71-72页
参考文献第72-77页
附录第77页

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