基于脉冲涡流的带包覆层管道缺陷检测有限元分析
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 课题来源 | 第7页 |
| 1.2 课题研究目的及意义 | 第7-8页 |
| 1.3 脉冲涡流检测研究现状 | 第8-9页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第8-9页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第9页 |
| 1.4 研究不足与趋势 | 第9-10页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第10-11页 |
| 第2章 脉冲涡流检测理论研究 | 第11-18页 |
| 2.1 引言 | 第11页 |
| 2.2 脉冲涡流检测原理 | 第11-12页 |
| 2.3 脉冲涡流提离效应与趋肤效应 | 第12-14页 |
| 2.3.1 提离效应 | 第12页 |
| 2.3.2 趋肤效应 | 第12-14页 |
| 2.4 电磁场有限元建模理论 | 第14-17页 |
| 2.5 本章小结 | 第17-18页 |
| 第3章 脉冲涡流检测有限元建模分析 | 第18-33页 |
| 3.1 引言 | 第18页 |
| 3.2 建立2D有限元检测模型 | 第18-23页 |
| 3.3 被测材料对检测的影响 | 第23-27页 |
| 3.4 提离高度对检测影响 | 第27-29页 |
| 3.5 包覆层对检测影响 | 第29-32页 |
| 3.6 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 脉冲涡流检测探头优化研究 | 第33-47页 |
| 4.1 引言 | 第33页 |
| 4.2 脉冲涡流检测线圈结构优化研究 | 第33-40页 |
| 4.2.1 接收线圈位置对检测影响 | 第33-35页 |
| 4.2.2 激励线圈内半径对检测影响 | 第35-37页 |
| 4.2.3 激励线圈宽高比对检测影响 | 第37-40页 |
| 4.3 脉冲涡流检测激励波形优化研究 | 第40-44页 |
| 4.3.1 激励频率对检测影响 | 第40-42页 |
| 4.3.2 占空比对检测影响 | 第42-44页 |
| 4.4 检测探头性能分析 | 第44-46页 |
| 4.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第5章 脉冲涡流检测信号分析 | 第47-58页 |
| 5.1 引言 | 第47页 |
| 5.2 时域特征分析 | 第47-52页 |
| 5.2.1 不同深度外壁缺陷时域分析 | 第47-49页 |
| 5.2.2 不同深度内壁缺陷时域分析 | 第49-50页 |
| 5.2.3 不同弧度外壁缺陷时域分析 | 第50-52页 |
| 5.3 频域特征分析 | 第52-56页 |
| 5.3.1 不同深度外壁缺陷频域分析 | 第52-53页 |
| 5.3.2 不同深度内壁缺陷频域分析 | 第53-55页 |
| 5.3.3 不同弧度外壁缺陷频域分析 | 第55-56页 |
| 5.4 缺陷分类识别 | 第56-57页 |
| 5.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 第6章 结论与展望 | 第58-60页 |
| 6.1 结论 | 第58-59页 |
| 6.2 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
