基于紧耦合结构的阵列天线技术研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
符号对照表 | 第11-12页 |
缩略语对照表 | 第12-15页 |
第一章 绪论 | 第15-21页 |
1.1 宽带阵列天线的研究背景 | 第15-17页 |
1.1.1 宽带阵列天线的研究意义 | 第15-17页 |
1.1.2 宽带阵列天线的研究进展 | 第17页 |
1.2 紧耦合阵列天线的研究意义及现状 | 第17-19页 |
1.2.1 紧耦合阵列天线的研究意义 | 第17-18页 |
1.2.2 紧耦合阵列天线的研究现状 | 第18-19页 |
1.3 本文主要内容 | 第19-21页 |
第二章 阵列天线理论基础 | 第21-29页 |
2.1 宽带阵列天线的基本理论 | 第21-26页 |
2.1.1 阵列天线的常用理论与参数 | 第21-23页 |
2.1.2 天线的极化 | 第23-26页 |
2.2 紧耦合偶极子天线单元的基本原理 | 第26-28页 |
2.2.1 紧耦合偶极子单元的输入阻抗分析 | 第26-27页 |
2.2.2 偶极子单元的匹配分析 | 第27-28页 |
2.3 本章小结 | 第28-29页 |
第三章 线极化紧耦合阵列的仿真设计 | 第29-47页 |
3.1 天线单元设计 | 第30-33页 |
3.1.1 设计要求分析 | 第30-31页 |
3.1.2 单元仿真 | 第31-33页 |
3.2 电阻型频率选择表面的仿真 | 第33-36页 |
3.2.1 电阻型频选的工作原理 | 第33-34页 |
3.2.2 电阻型频选的仿真 | 第34-36页 |
3.3 巴伦设计 | 第36-38页 |
3.3.1 渐变线巴伦的基本原理 | 第36-37页 |
3.3.2 渐变线巴伦的设计 | 第37-38页 |
3.4 仿真结果分析 | 第38-45页 |
3.4.1 周期边界条件仿真结果 | 第38-41页 |
3.4.2 有限大阵列的仿真结果 | 第41-45页 |
3.5 本章小结 | 第45-47页 |
第四章 线极化紧耦合阵列的加工测试 | 第47-59页 |
4.1 功分器的设计 | 第47-50页 |
4.1.1 功分器的设计原理 | 第47-48页 |
4.1.2 功分器的设计及仿真 | 第48-50页 |
4.2 电阻型频率选择表面的实现 | 第50页 |
4.3 阵列的加工与测试 | 第50-57页 |
4.3.1 阵列的结构与组装 | 第50-53页 |
4.3.2 阵列的测试结果 | 第53-57页 |
4.4 本章小结 | 第57-59页 |
第五章 可重构的紧耦合阵列仿真 | 第59-75页 |
5.1 双极化天线单元设计 | 第59-68页 |
5.1.1 天线单元的选取 | 第59-60页 |
5.1.2 天线单元的设计 | 第60-68页 |
5.2 圆极化天线单元的重构 | 第68-72页 |
5.3 频率的重构 | 第72-74页 |
5.4 本章小结 | 第74-75页 |
第六章 结论与展望 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-79页 |
致谢 | 第79-81页 |
作者简介 | 第81-82页 |