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基于紧耦合结构的阵列天线技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-15页
第一章 绪论第15-21页
    1.1 宽带阵列天线的研究背景第15-17页
        1.1.1 宽带阵列天线的研究意义第15-17页
        1.1.2 宽带阵列天线的研究进展第17页
    1.2 紧耦合阵列天线的研究意义及现状第17-19页
        1.2.1 紧耦合阵列天线的研究意义第17-18页
        1.2.2 紧耦合阵列天线的研究现状第18-19页
    1.3 本文主要内容第19-21页
第二章 阵列天线理论基础第21-29页
    2.1 宽带阵列天线的基本理论第21-26页
        2.1.1 阵列天线的常用理论与参数第21-23页
        2.1.2 天线的极化第23-26页
    2.2 紧耦合偶极子天线单元的基本原理第26-28页
        2.2.1 紧耦合偶极子单元的输入阻抗分析第26-27页
        2.2.2 偶极子单元的匹配分析第27-28页
    2.3 本章小结第28-29页
第三章 线极化紧耦合阵列的仿真设计第29-47页
    3.1 天线单元设计第30-33页
        3.1.1 设计要求分析第30-31页
        3.1.2 单元仿真第31-33页
    3.2 电阻型频率选择表面的仿真第33-36页
        3.2.1 电阻型频选的工作原理第33-34页
        3.2.2 电阻型频选的仿真第34-36页
    3.3 巴伦设计第36-38页
        3.3.1 渐变线巴伦的基本原理第36-37页
        3.3.2 渐变线巴伦的设计第37-38页
    3.4 仿真结果分析第38-45页
        3.4.1 周期边界条件仿真结果第38-41页
        3.4.2 有限大阵列的仿真结果第41-45页
    3.5 本章小结第45-47页
第四章 线极化紧耦合阵列的加工测试第47-59页
    4.1 功分器的设计第47-50页
        4.1.1 功分器的设计原理第47-48页
        4.1.2 功分器的设计及仿真第48-50页
    4.2 电阻型频率选择表面的实现第50页
    4.3 阵列的加工与测试第50-57页
        4.3.1 阵列的结构与组装第50-53页
        4.3.2 阵列的测试结果第53-57页
    4.4 本章小结第57-59页
第五章 可重构的紧耦合阵列仿真第59-75页
    5.1 双极化天线单元设计第59-68页
        5.1.1 天线单元的选取第59-60页
        5.1.2 天线单元的设计第60-68页
    5.2 圆极化天线单元的重构第68-72页
    5.3 频率的重构第72-74页
    5.4 本章小结第74-75页
第六章 结论与展望第75-77页
参考文献第77-79页
致谢第79-81页
作者简介第81-82页

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