| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题的研究背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 课题任务 | 第13-14页 |
| 第二章 测试装置总体设计方案 | 第14-18页 |
| 2.1 设计目标要求 | 第14-15页 |
| 2.2 测试装置整体框架设计 | 第15-18页 |
| 2.2.1 测试装置硬件方案设计 | 第15-16页 |
| 2.2.2 嵌入式操作系统的选择 | 第16-18页 |
| 第三章 测试装置硬件电路设计 | 第18-46页 |
| 3.1 COM Express嵌入式计算机模块 | 第18-20页 |
| 3.2 IDE及SATA接.电路设计 | 第20-24页 |
| 3.2.1 SATA和IDE总线接.技术 | 第21-22页 |
| 3.2.2 USB-SATA/IDE协议转换电路设计 | 第22-24页 |
| 3.3 SCSI接口电路设计 | 第24-26页 |
| 3.3.1 SCSI接口技术 | 第24-25页 |
| 3.3.2 SCSI接口设计实现 | 第25-26页 |
| 3.4 SAS接口电路设计 | 第26-28页 |
| 3.4.1 SAS接口技术 | 第26-27页 |
| 3.4.2 SAS接口设计实现 | 第27-28页 |
| 3.5 PCI总线接口设计 | 第28-32页 |
| 3.5.1 PCI总线接口技术 | 第28页 |
| 3.5.2 PCI接口电路设计 | 第28-32页 |
| 3.6 PCIE接口设计 | 第32-37页 |
| 3.6.1 PCIE总线接口技术 | 第32-34页 |
| 3.6.2 PCIE接口电路设计 | 第34-35页 |
| 3.6.3 PCIE参考时钟缓冲设计 | 第35-37页 |
| 3.7 其他外围接口电路设计 | 第37-44页 |
| 3.7.1 测试装置存储器接口设计 | 第37页 |
| 3.7.2 USB总线接口设计 | 第37-40页 |
| 3.7.3 VGA显示接口设计 | 第40-41页 |
| 3.7.4 以太网接口设计 | 第41-42页 |
| 3.7.5 电源与复位电路设计 | 第42-44页 |
| 3.8 电路板的抗干扰设计 | 第44-46页 |
| 3.8.1 印制电路板的设计 | 第44页 |
| 3.8.2 信号完整性问题 | 第44-46页 |
| 第四章 嵌入式操作系统的定制 | 第46-59页 |
| 4.1 Windows XP Embedded系统介绍 | 第46-47页 |
| 4.2 Windows XP Embedded嵌入式操作系统的定制 | 第47-59页 |
| 4.2.1 Windows XP Embedded Studio的安装 | 第48-49页 |
| 4.2.2 检测目标机硬件 | 第49-50页 |
| 4.2.3 制作宏组件 | 第50-51页 |
| 4.2.4 导入组件数据库 | 第51页 |
| 4.2.5 构建操作系统映像 | 第51-57页 |
| 4.2.6 部署操作系统 | 第57-59页 |
| 第五章 测试装置的调试与验证 | 第59-67页 |
| 5.1 测试装置电路及各接.的调试 | 第59页 |
| 5.2 测试装置测试功能验证 | 第59-64页 |
| 5.2.1 计算机外存设备测试功能验证 | 第60-62页 |
| 5.2.2 PCI、PCIE总线设备测试功能验证 | 第62-64页 |
| 5.3 出现的问题及解决办法 | 第64-67页 |
| 5.3.1 硬件出现的问题及解决方法 | 第64-65页 |
| 5.3.2 系统定制出现的问题及解决方法 | 第65-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 总结 | 第67-68页 |
| 6.2 展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 附录 | 第72-73页 |
