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一种基于Zynq FPGA的MCU内核的验证平台

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-11页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第8页
    1.2 国内外在该方向的研究现状及分析第8-9页
    1.3 本文的主要研究内容第9-11页
第2章 基于Zynq的验证平台的设计第11-24页
    2.1 基于Zynq的验证平台的整体结构第11-17页
        2.1.1 可编程SoC Zynq-7000 芯片第11-12页
        2.1.2 搭载Zynq-7020 芯片的ZedBoard开发板第12-14页
        2.1.3 基于验证系统的整体结构第14-15页
        2.1.4 验证系统的开发平台及开发流程第15-17页
    2.2 基于验证系统平台的硬件结构设计第17-22页
        2.2.1 验证系统硬件拓扑结构第17-18页
        2.2.2 验证系统中的ARM Cortex-A9 处理器第18-19页
        2.2.3 验证系统中ARM Cortex-A9 处理器与PL的通信第19页
        2.2.4 硬件架构中的其它功能模块第19-20页
        2.2.5 验证系统中AXI4-Lite系统总线第20-22页
    2.3 验证系统的主要功能设计第22页
    2.4 本章小结第22-24页
第3章 验证IP核的设计与仿真验证第24-45页
    3.1 MCU内核的基本机构介绍第24-25页
    3.2 MCU内核的ASIC代码到FPGA的转换第25-28页
    3.3 验证IP核的设计第28-33页
        3.3.1 验证IP核的整体结构设计第29-30页
        3.3.2 验证IP核的内部模块设计第30-33页
    3.4 验证IP核的功能仿真第33-37页
    3.5 基于AXI4-Lite总线的验证IP核接口的设计第37-44页
        3.5.1 验证IP核与AXI4-Lite总线的接口信号第37-39页
        3.5.2 AXI4-Lite总线接口的寄存器功能设计第39-42页
        3.5.3 AXI4-Lite总线接口功能仿真第42-44页
    3.6 本章小结第44-45页
第4章 基于验证平台的MCU测试流程与性能分析第45-54页
    4.1 验证平台的实现流程第45-53页
        4.1.1 基础硬件系统的搭建流程第45-46页
        4.1.2 在基本硬件系统中挂载验证IP核第46-48页
        4.1.3 基础软硬件系统测试第48-49页
        4.1.4 验证系统的整体测试第49-52页
        4.1.5 Benchmark测试第52-53页
    4.2 系统性能分析第53页
    4.3 本章小结第53-54页
结论第54-55页
参考文献第55-59页
致谢第59页

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