武器动态测试存储测试系统通用SoC设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·本课题的来源、目的和意义 | 第8-10页 |
| ·课题研究现状 | 第10-12页 |
| ·存储测试技术国内外研究现状 | 第10-11页 |
| ·SoC 技术的发展历史及应用现状 | 第11-12页 |
| ·本课题的研究内容和思路 | 第12-14页 |
| 2 总体方案的设计 | 第14-26页 |
| ·存储测试对测试装置的需求 | 第14-15页 |
| ·SoC 开发可行性 | 第15-18页 |
| ·SoC 微型性 | 第15页 |
| ·SoC 低功耗 | 第15-18页 |
| ·SoC 设计流程 | 第18-19页 |
| ·基于通用 SoC 的存储测试系统的总体设计 | 第19-26页 |
| ·测试系统基本组成 | 第19-22页 |
| ·采样策略研究 | 第22-23页 |
| ·状态设计 | 第23-26页 |
| 3 存储测试系统通用 SoC 芯片设计 | 第26-49页 |
| ·存储测试系统通用 SoC 芯片概述 | 第26-29页 |
| ·通用SoC 芯片功能简述 | 第26-27页 |
| ·通用SoC 芯片的技术指标 | 第27页 |
| ·通用SoC 芯片的工作流程 | 第27-29页 |
| ·通用 SoC 芯片内部功能模块 | 第29-31页 |
| ·芯片控制模块设计与仿真 | 第31-43页 |
| ·控制部分框图 | 第31页 |
| ·通信模块 | 第31-33页 |
| ·时钟模块 | 第33-36页 |
| ·地址、TC、负延迟产生模块 | 第36-37页 |
| ·级联片选模块 | 第37-40页 |
| ·触发及状态产生模块 | 第40-42页 |
| ·多次重触发模块 | 第42-43页 |
| ·通用 SoC 芯片测试样片的引脚及实物图 | 第43-44页 |
| ·虚拟软面板设计 | 第44-49页 |
| 4 基于 FPGA 的实验验证平台 | 第49-60页 |
| ·硬件电路设计 | 第49-53页 |
| ·实验验证 | 第53-60页 |
| ·变频采样功能验证 | 第53-54页 |
| ·多次重触发功能验证 | 第54-56页 |
| ·级联功能验证 | 第56-60页 |
| 5 武器动态测试通用 SoC 芯片应用展望 | 第60-65页 |
| ·通用 SoC 芯片应用于电子测压器 | 第60-62页 |
| ·通用 SoC 芯片应用于高冲击测试 | 第62-63页 |
| ·通用 SoC 芯片应用于油井测压器 | 第63-64页 |
| ·总结 | 第64-65页 |
| 6 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·全文总结 | 第65页 |
| ·本文的创新点和不足 | 第65-66页 |
| ·前景展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研工作 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
