摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第8-11页 |
第1章 绪论 | 第11-15页 |
1.1 选题背景和意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
1.2.1 国外发展现状 | 第12页 |
1.2.2 国内发展现状 | 第12-13页 |
1.2.3 总结 | 第13-14页 |
1.3 论文工作及章节安排 | 第14-15页 |
第2章 高性能信号处理系统控制管理技术研究 | 第15-29页 |
2.1 高性能信号处理系统技术特点 | 第15-19页 |
2.1.1 信号处理系统硬件结构 | 第15-16页 |
2.1.2 信号处理板卡结构与技术特点 | 第16-18页 |
2.1.3 控制板卡结构与技术特点 | 第18-19页 |
2.2 系统控制总线技术分析 | 第19-28页 |
2.2.1 系统控制总线结构 | 第19-20页 |
2.2.2 PCIE 控制总线 | 第20-23页 |
2.2.2.1 PCIE 总线协议分析 | 第20-21页 |
2.2.2.2 PCIE 总线拓扑 | 第21-22页 |
2.2.2.3 PCIE 总线数据传输的实现 | 第22-23页 |
2.2.3 SRIO 系统控制总线 | 第23-27页 |
2.2.3.1 SRIO 互连传输协议分析 | 第23-25页 |
2.2.3.2 PCIE to SRIO 桥芯片技术研究 | 第25-26页 |
2.2.3.3 SRIO 互连拓扑 | 第26页 |
2.2.3.4 SRIO 互连数据传输的实现 | 第26-27页 |
2.2.4 控制总线特点和应用分析 | 第27-28页 |
2.3 小结 | 第28-29页 |
第3章 一种高性能信号处理系统测控平台的架构设计 | 第29-39页 |
3.1 系统测控平台需求分析 | 第29页 |
3.2 系统测控平台架构设计 | 第29-31页 |
3.3 系统测控平台技术特点分析 | 第31-34页 |
3.3.1 系统测控平台功能 | 第31-33页 |
3.3.2 系统测控平台应用环境 | 第33-34页 |
3.4 系统测控平台关键技术研究 | 第34-38页 |
3.4.1 DSP 控制总线接口的上电初始化技术 | 第34-35页 |
3.4.2 DSP 与主机间的 PCIE 通信技术 | 第35-36页 |
3.4.3 DSP 外部总线加载技术 | 第36-38页 |
3.4.3.1 外部总线加载的基本原理 | 第36-37页 |
3.4.3.2 外部总线加载的过程 | 第37-38页 |
3.5 小结 | 第38-39页 |
第4章 高性能信号处理系统测控平台的设计与实现 | 第39-77页 |
4.1 系统测控平台程序结构 | 第39页 |
4.2 系统测控平台上位机控制程序设计 | 第39-41页 |
4.3 系统测控平台驱动程序设计 | 第41-42页 |
4.3.1 DSP 设备组管理 | 第41-42页 |
4.3.2 DSP 设备操作接口 | 第42页 |
4.4 系统测控平台测试程序设计 | 第42-63页 |
4.4.1 系统测试的内容 | 第42-43页 |
4.4.2 系统结构及模块测试方法 | 第43-56页 |
4.4.2.1 数据处理模块 | 第43页 |
4.4.2.2 高速动态存储模块 | 第43-47页 |
4.4.2.3 高速数据传输模块 | 第47-50页 |
4.4.2.4 控制总线模块 | 第50-51页 |
4.4.2.5 静态存储器模块 | 第51-54页 |
4.4.2.6 错误分析方法 | 第54-56页 |
4.4.3 压力性测试 | 第56-63页 |
4.4.3.1 DSP 芯片压力性测试 | 第56-60页 |
4.4.3.2 板卡数据流压力性测试 | 第60-63页 |
4.5 系统测控平台人机界面设计 | 第63-69页 |
4.5.1 框架界面设计 | 第63-64页 |
4.5.2 基本操作界面设计 | 第64-65页 |
4.5.3 系统可靠性测试界面 | 第65-67页 |
4.5.4 系统稳定性测试界面设计 | 第67-68页 |
4.5.5 系统压力测试界面 | 第68-69页 |
4.6 系统测控平台上下位机交互方案研究 | 第69-74页 |
4.6.1 交互方案设计 | 第69-71页 |
4.6.2 交互通信协议设计 | 第71-73页 |
4.6.3 交互过程设计 | 第73-74页 |
4.7 使用示例 | 第74-76页 |
4.7.1 示例一 | 第74-75页 |
4.7.2 示例二 | 第75-76页 |
4.8 小结 | 第76-77页 |
结论 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
致谢 | 第81页 |