| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第13-15页 |
| 1.2 相关领域的研究现状 | 第15-18页 |
| 1.2.1 图像传感器及相机电子学系统测试技术现状 | 第15-16页 |
| 1.2.2 光电成像系统性能评价研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3 遥感相机成像电子学测试技术研究思路的构建 | 第18-19页 |
| 1.4 本论文组织结构 | 第19-21页 |
| 第2章 遥感相机成像电子学性能评测体系建立 | 第21-73页 |
| 2.1 成像电子学核心性能指标提取 | 第21-23页 |
| 2.2 影响灵敏度（S）及非线性度（NL）因素分析及成像参数提取 | 第23-29页 |
| 2.2.1 成像电子学光子传递模型 | 第23-26页 |
| 2.2.2 成像电子学V/Q非线性和DN/V非线性 | 第26-29页 |
| 2.2.3 影响灵敏度（S）及非线性度（NL）的过程成像参数提取 | 第29页 |
| 2.3 影响成像电子学MTF的因素分析及过程成像参数提取 | 第29-44页 |
| 2.3.1 成像电子学MTF影响因素分解 | 第30页 |
| 2.3.2 图像传感器采样积分对MTF的影响 | 第30-32页 |
| 2.3.3 电荷扩散对MTF的影响 | 第32页 |
| 2.3.4 电荷转移对MTF的影响 | 第32-39页 |
| 2.3.5 成像电子学非线性对MTF的影响 | 第39-41页 |
| 2.3.6 TDI CCD级数对MTF的影响 | 第41-42页 |
| 2.3.7 噪声对MTF的影响 | 第42-43页 |
| 2.3.8 影响MTF的过程成像参数提取 | 第43-44页 |
| 2.4 影响成像电子学SNR的因素分析及过程成像参数提取 | 第44-62页 |
| 2.4.1 成像电子学SNR影响因素分解 | 第44-45页 |
| 2.4.2 成像电子学噪声对信噪比影响分析 | 第45-56页 |
| 2.4.3 级数对信噪比影响分析 | 第56-59页 |
| 2.4.4 成像电子学可调增益对信噪比影响分析 | 第59页 |
| 2.4.5 成像电子学V/Q非线性对信噪比的影响 | 第59-61页 |
| 2.4.6 影响SNR的过程成像参数提取 | 第61-62页 |
| 2.5 影响动态范围（DR）的因素分析及过程成像参数提取 | 第62-65页 |
| 2.5.1 成像电子学DR影响因素分解 | 第62-63页 |
| 2.5.2 图像传感器的饱和输出 | 第63页 |
| 2.5.3 非线性对系统DR的影响 | 第63-64页 |
| 2.5.4 暗信号对系统DR的影响 | 第64页 |
| 2.5.5 影响DR的过程成像参数提取 | 第64-65页 |
| 2.6 影响成像电子学GSD的因素分析及评价参数提取 | 第65-67页 |
| 2.7 成像电子学参数矩阵及测试体系建立 | 第67-72页 |
| 2.7.1 成像电子学参数矩阵 | 第67-68页 |
| 2.7.2 成像电子学测试体系建立 | 第68-72页 |
| 本章小结 | 第72-73页 |
| 第3章 遥感相机电子学成像参数测试方法研究 | 第73-105页 |
| 3.1 概述 | 第73页 |
| 3.2 成像电子学灵敏度测试方法研究 | 第73-81页 |
| 3.2.1 成像电子学灵敏度测试方法理论模型 | 第73-74页 |
| 3.2.2 成像电子学灵敏度测试方法实现 | 第74-81页 |
| 3.3 基于PFPN曲线的光固定图形噪声 σPFPN测试方法研究 | 第81-86页 |
| 3.3.1 PFPN曲线生成及 σPFPN测试 | 第81-85页 |
| 3.3.2 PFPN曲线测试不确定度分析 | 第85-86页 |
| 3.4 基于 ΦP曲线判别DN/V非线性和V/Q非线性 | 第86-90页 |
| 3.5 基于PTC和DTC曲线的图像噪声评价 | 第90-94页 |
| 3.5.1 PTC曲线测试方法及噪声评价 | 第90-93页 |
| 3.5.2 DTC曲线测试方法及暗噪声评价 | 第93-94页 |
| 3.6 TDI CCD垂直转移效率（VCTE）测试方法研究 | 第94-103页 |
| 3.6.1 传统CTE测试方法简介 | 第94-98页 |
| 3.6.2 基于特殊时序的TDI CCD VCTE测试方法 | 第98-103页 |
| 本章小结 | 第103-105页 |
| 第4章 遥感相机成像电子学系统参数评价平台构建 | 第105-119页 |
| 4.1 概述 | 第105-108页 |
| 4.2 通用测试平台硬件构建 | 第108-117页 |
| 4.2.1 几何参数测试系统硬件构建 | 第108-114页 |
| 4.2.2 光电参数测试系统硬件构建 | 第114-117页 |
| 本章小结 | 第117-119页 |
| 第5章 测试结果与数据分析 | 第119-139页 |
| 5.1 概述 | 第119页 |
| 5.2 水平转移效率（HCTE）与MTF关系测试结果分析 | 第119-121页 |
| 5.3 成像电子学系统信噪比（SNR）测试结果分析 | 第121-126页 |
| 5.4 成像电子学饱和输出能力测试结果分析 | 第126-129页 |
| 5.5 成像电子学灵敏度测试结果及数据分析 | 第129-134页 |
| 5.5.1 时间域采样次数N对测试结果影响分析 | 第129-131页 |
| 5.5.2 照度调整步长L对测试结果影响分析 | 第131-132页 |
| 5.5.3 像元数M对测试结果影响分析 | 第132-133页 |
| 5.5.4 时间域测试方法与空间域测试方法的结果比对 | 第133-134页 |
| 5.6 PFPN曲线测试结果及数据分析 | 第134-136页 |
| 5.6.1 时间域采样次数N对测试结果影响分析 | 第134-135页 |
| 5.6.2 照度调整步长L对测试结果影响分析 | 第135-136页 |
| 5.7 VCTE曲线测试结果及数据分析 | 第136-138页 |
| 本章小结 | 第138-139页 |
| 第6章 总结与展望 | 第139-143页 |
| 6.1 论文工作总结与主要成果 | 第139-140页 |
| 6.2 论文主要创新点 | 第140-141页 |
| 6.3 未来工作展望 | 第141-143页 |
| 参考文献 | 第143-149页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第149-151页 |
| 指导教师及作者简介 | 第151-153页 |
| 致谢 | 第153页 |
