摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
缩略词表 | 第15-17页 |
第一章 绪论 | 第17-22页 |
1.1 TDD-LTE的研究背景 | 第17-18页 |
1.2 TDD-LTE协议框架及关键技术概述 | 第18-20页 |
1.2.1 TDD-LTE协议框架 | 第18-19页 |
1.2.2 TDD-LTE关键技术 | 第19-20页 |
1.3 论文的结构与内容安排 | 第20-22页 |
第二章 TDD-LTE系统PDCCH信道的链路设计 | 第22-46页 |
2.1 TDD-LTE物理层协议概述 | 第22-25页 |
2.1.1 TDD-LTE系统的物理信道 | 第22-23页 |
2.1.2 TDD-LTE系统无线帧结构 | 第23-25页 |
2.2 PDCCH的总体结构与功能概述 | 第25-29页 |
2.2.1 PDCCH的时频资源 | 第25-26页 |
2.2.2 PDCCH的信息格式 | 第26-27页 |
2.2.3 下行控制信息分类 | 第27-29页 |
2.3 PDCCH发端总体设计 | 第29-37页 |
2.3.1 PDCCH的发端处理流程 | 第29页 |
2.3.2 PDCCH的发端关键模块研究 | 第29-37页 |
2.4 PDCCH收端总体设计 | 第37-43页 |
2.4.1 PDCCH的收端处理流程 | 第37页 |
2.4.2 PDCCH的收端关键模块研究 | 第37-40页 |
2.4.3 PDCCH的盲检测技术研究 | 第40-43页 |
2.5 数字仿真结果与分析 | 第43-45页 |
2.6 本章小结 | 第45-46页 |
第三章 TDD-LTE实验系统的SRIO接口 | 第46-64页 |
3.1 SRIO技术概述 | 第46-56页 |
3.1.1 SRIO体系规范 | 第47-48页 |
3.1.2 Direct IO传输过程 | 第48-52页 |
3.1.3 SRIO基本传输类型 | 第52-56页 |
3.2 TDD-LTE实验系统的SRIO接口设计 | 第56-63页 |
3.2.1 TDD-LTE实验系统硬件组成框图 | 第56页 |
3.2.2 实验系统中SRIO连通性测试 | 第56-61页 |
3.2.3 SRIO速率测试 | 第61-63页 |
3.3 本章小结 | 第63-64页 |
第四章 基于TMS320C6670的PDCCH信道实现技术 | 第64-90页 |
4.1 TMS320C6670多核芯片 | 第64-65页 |
4.2 基于BCP的PDCCH发射机的DSP实现及验证 | 第65-71页 |
4.2.1 BCP结构功能概述 | 第65-67页 |
4.2.2 基于BCP的PDCCH发送端定点实现 | 第67-71页 |
4.3 PDCCH信道盲检测的定点实现 | 第71-88页 |
4.3.1 常规盲检测实现的复杂度分析 | 第71-73页 |
4.3.2 基于软件优化的盲检测实现 | 第73-75页 |
4.3.3 基于VCP2的盲检测实现 | 第75-88页 |
4.4 本章小结 | 第88-90页 |
第五章 TDD-LTE实验系统PDCCH信道性能测试 | 第90-95页 |
5.1 基于Matlab的浮点仿真链路性能测试 | 第90-93页 |
5.1.1 AWGN下发射分集性能测试 | 第90-91页 |
5.1.2 DSP不同定标方式下性能测试 | 第91-92页 |
5.1.3 软判硬判性能测试 | 第92-93页 |
5.2 基于信道模拟器的PDCCH性能测试 | 第93-94页 |
5.3 本章小结 | 第94-95页 |
第六章 总结与展望 | 第95-97页 |
6.1 主要工作及贡献 | 第95页 |
6.2 下一步研究工作 | 第95-97页 |
致谢 | 第97-98页 |
参考文献 | 第98-101页 |
个人简历 | 第101-102页 |