摘要 | 第10-11页 |
ABSTRACT | 第11页 |
第一章 绪论 | 第12-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第12-14页 |
1.1.1 研究背景 | 第12-14页 |
1.1.2 研究意义 | 第14页 |
1.2 国内外研究现状 | 第14-17页 |
1.3 论文研究的主要内容 | 第17-18页 |
第二章 总体测试平台的设计 | 第18-36页 |
2.1 虚拟仪器技术 | 第18-22页 |
2.1.1 虚拟仪器技术的发展概况 | 第18-19页 |
2.1.2 虚拟仪器开发环境 | 第19-22页 |
2.2 测试总线 | 第22-25页 |
2.2.1 GPIB总线 | 第22-23页 |
2.2.2 VXI总线 | 第23-24页 |
2.2.3 LXI总线 | 第24-25页 |
2.3 仪器程控技术 | 第25-31页 |
2.3.1 SCPI命令类型和语法格式 | 第25-26页 |
2.3.2 VISA库函数在仪器程控中的应用 | 第26-29页 |
2.3.3 Socket技术在仪器程控中的应用 | 第29-31页 |
2.4 硬件系统设计 | 第31-35页 |
2.4.1 硬件设备的种类以及参数 | 第31-33页 |
2.4.2 硬件系统的结构体系 | 第33-35页 |
2.5 本章小结 | 第35-36页 |
第三章 军用设备电磁发射自动测量系统 | 第36-54页 |
3.1 背景介绍 | 第36-38页 |
3.2 CE10125Hz~10k Hz电源线传导发射 | 第38-42页 |
3.2.1 测量系统的硬件配置 | 第38-39页 |
3.2.2 测试界面的开发 | 第39-42页 |
3.3 CE10210kHz~10MHz电源线传导发射 | 第42-43页 |
3.3.1 测试系统的硬件配置 | 第42页 |
3.3.2 测试界面的开发 | 第42-43页 |
3.4 RE10210kHz~18GHz电场辐射发射 | 第43-47页 |
3.4.1 测试系统的硬件配置 | 第43-45页 |
3.4.2 测试界面的开发 | 第45-47页 |
3.5 数据预处理与不确定度分析 | 第47-53页 |
3.5.1 数据预处理 | 第47-49页 |
3.5.2 不确定度分析 | 第49-53页 |
3.6 本章小结 | 第53-54页 |
第四章 双频自动测量系统 | 第54-69页 |
4.1 背景介绍 | 第54-55页 |
4.2 测试原理分析 | 第55-57页 |
4.2.1 非线性问题分析 | 第55-56页 |
4.2.2 双频测试原理分析 | 第56-57页 |
4.3 系统硬件结构 | 第57-58页 |
4.4 测试软件开发 | 第58-65页 |
4.4.1 数据库SQLite | 第58-60页 |
4.4.2 Measurement Studio | 第60页 |
4.4.3 界面设计 | 第60-65页 |
4.5 实验分析 | 第65-68页 |
4.5.1 直接增益 | 第65-66页 |
4.5.2 二次变频超外差 | 第66-68页 |
4.6 本章小结 | 第68-69页 |
第五章 紧缩场天线方向图自动测量系统 | 第69-80页 |
5.1 背景介绍 | 第69-70页 |
5.2 测试系统分析 | 第70-74页 |
5.2.1 微波暗室与紧缩场 | 第70页 |
5.2.2 天线测量基本参数 | 第70-72页 |
5.2.3 测量方法 | 第72-74页 |
5.3 系统硬件配置 | 第74-75页 |
5.4 系统软件设计 | 第75-79页 |
5.4.1 转台控制技术 | 第75-76页 |
5.4.2 界面设计 | 第76-79页 |
5.5 本章小结 | 第79-80页 |
第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
致谢 | 第82-84页 |
参考文献 | 第84-88页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第88页 |