相控阵天线测量与校准技术及其误差分析
| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12页 |
| 1.2 相控阵天线的产生和发展 | 第12-16页 |
| 1.2.1 无源相控阵 | 第13-14页 |
| 1.2.2 有源相控阵 | 第14-15页 |
| 1.2.3 数字相控阵 | 第15-16页 |
| 1.3 相控阵天线测量与校准技术研究现状 | 第16-19页 |
| 1.4 论文的创新点 | 第19-20页 |
| 1.5 研究内容及论文安排 | 第20-22页 |
| 第二章 相控阵天线校准测量的基本理论 | 第22-33页 |
| 2.1 相控阵天线的误差源 | 第23-24页 |
| 2.1.1 阵面误差源 | 第24页 |
| 2.1.2 馈电误差源 | 第24页 |
| 2.2 阵列激励测量的基本理论 | 第24-32页 |
| 2.2.1 测量的误差 | 第25-26页 |
| 2.2.2 测量的精度 | 第26-27页 |
| 2.2.3 测量方法的分类 | 第27-28页 |
| 2.2.4 线性测量方法的误差分析 | 第28-32页 |
| 2.2.5 非线性方法的误差分析 | 第32页 |
| 2.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 线性点测量方法 | 第33-59页 |
| 3.1 基本理论 | 第33-35页 |
| 3.2 先验信息 | 第35-36页 |
| 3.3 数据测量 | 第36-37页 |
| 3.4 状态选择 | 第37-46页 |
| 3.4.1 对相控阵系统硬件的要求 | 第38页 |
| 3.4.2 测量精度 | 第38-41页 |
| 3.4.3 数据处理的复杂度 | 第41-46页 |
| 3.5 测量流程 | 第46页 |
| 3.6 仿真验证和分析 | 第46-58页 |
| 3.6.1 线性点测量方法的正确性 | 第47-53页 |
| 3.6.2 矩阵的条件数和测量精度 | 第53页 |
| 3.6.3 SNR和测量精度 | 第53-54页 |
| 3.6.4 移相器的误差和测量精度 | 第54-55页 |
| 3.6.5 实验验证 | 第55-58页 |
| 3.7 本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 线性面测量方法 | 第59-83页 |
| 4.1 基本理论 | 第59-61页 |
| 4.2 均匀圆环阵列 | 第61-66页 |
| 4.2.1 逼近的相对误差 | 第63页 |
| 4.2.2 测量数据中的信噪比SNR | 第63页 |
| 4.2.3 矩阵的条件数 | 第63-64页 |
| 4.2.4 单元场分析 | 第64-66页 |
| 4.3 均匀直线阵列 | 第66-71页 |
| 4.3.1 逼近的相对误差 | 第66-67页 |
| 4.3.2 测量数据中的信噪比SNR | 第67页 |
| 4.3.3 矩阵的条件数 | 第67-69页 |
| 4.3.4 阵列的真实激励 | 第69-71页 |
| 4.4 远场线性面测量方法 | 第71-73页 |
| 4.4.1 逼近误差 | 第72页 |
| 4.4.2 信噪比 | 第72页 |
| 4.4.3 矩阵的条件数 | 第72-73页 |
| 4.5 测量流程 | 第73页 |
| 4.6 仿真验证与分析 | 第73-79页 |
| 4.6.1 均匀圆环阵的仿真 | 第73-76页 |
| 4.6.2 均匀直线阵的仿真 | 第76-79页 |
| 4.7 实验验证 | 第79-82页 |
| 4.8 本章小结 | 第82-83页 |
| 第五章 非线性测量方法 | 第83-103页 |
| 5.1 非线性点测量方法 | 第83-94页 |
| 5.1.1 算法框架 | 第84-85页 |
| 5.1.2 配相方式的存在性 | 第85-86页 |
| 5.1.3 关于非线性约束条件 | 第86-87页 |
| 5.1.4 分组测量 | 第87-88页 |
| 5.1.5 测量精度 | 第88-91页 |
| 5.1.6 一种较优的测量策略 | 第91-94页 |
| 5.2 非线性面测量方法 | 第94-95页 |
| 5.3 仿真验证和分析 | 第95-99页 |
| 5.3.1 移相器幅度波动 | 第96-97页 |
| 5.3.2 移相器的相位量化误差 | 第97页 |
| 5.3.3 SNR | 第97-98页 |
| 5.3.4 测量次数 | 第98-99页 |
| 5.4 实验验证 | 第99-102页 |
| 5.5 本章小结 | 第102-103页 |
| 第六章 馈电系统与校准方法 | 第103-111页 |
| 6.1 在线校准方法 | 第103-105页 |
| 6.1.1 内校准网络 | 第103-104页 |
| 6.1.2 阵面附近附加测量探头 | 第104页 |
| 6.1.3 阵元本身作为测量探头 | 第104-105页 |
| 6.2 快速校准方法 | 第105-106页 |
| 6.2.1 线性点测量方法 | 第105页 |
| 6.2.2 非线性点测量方法 | 第105页 |
| 6.2.3 线性面测量方法 | 第105-106页 |
| 6.3 馈电系统分析 | 第106-110页 |
| 6.3.1 真实的阵面激励 | 第106-109页 |
| 6.3.2 校准 | 第109-110页 |
| 6.4 本章小结 | 第110-111页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第111-113页 |
| 7.1 全文总结 | 第111-112页 |
| 7.2 后续工作和展望 | 第112-113页 |
| 7.2.1 宽带/时域校准方法 | 第112页 |
| 7.2.2 基于非场叠加原理的校准方法 | 第112-113页 |
| 致谢 | 第113-114页 |
| 参考文献 | 第114-118页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第118-119页 |
