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X射线衍射法测量蓝宝石单晶残余应力的研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第9-23页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第9-10页
    1.2 蓝宝石单晶生长与应用第10-16页
        1.2.1 蓝宝石单晶体的晶体结构与性能第10-11页
        1.2.2 蓝宝石单晶体的主要应用第11-15页
        1.2.3 蓝宝石单晶的生长方法第15-16页
    1.3 蓝宝石单晶中残余应力的来源第16-17页
        1.3.1 内部因素第16-17页
        1.3.2 外部因素第17页
    1.4 单晶体材料残余应力测量技术发展现状第17-20页
        1.4.1 光弹法第17页
        1.4.2 中子衍射法第17-18页
        1.4.3 能量射散法第18-19页
        1.4.4 X射线衍射法第19-20页
    1.5 蓝宝石单晶残余应力测量方法的选择第20-21页
    1.6 本文主要研究内容第21-23页
第2章 试样制备与实验仪器第23-25页
    2.1 试样材料第23页
    2.2 试样制备第23-24页
    2.3 实验仪器及内容第24-25页
        2.3.1 实验仪器第24页
        2.3.2 残余应力测量内容第24-25页
第3章 多重线性回归方法理论研究第25-34页
    3.1 引言第25页
    3.2 极图第25-26页
    3.3 多重线性回归方法原理研究第26-33页
        3.3.1 单晶定向第26-27页
        3.3.2 立方晶系单晶残余应力测量原理第27-31页
        3.3.3 六方晶系单晶残余应力测量原理第31-33页
    3.4 本章小结第33-34页
第4章 原理验证及测试方法精确性分析第34-63页
    4.1 引言第34页
    4.2 测定单晶铁的残余应力第34-39页
        4.2.1 单晶铁定向第34-36页
        4.2.2 单晶铁应力测量第36-37页
        4.2.3 晶面数组数对残余应力测量结果的影响第37-39页
    4.3 选择{2010}晶面族测量单晶硅的残余应力第39-43页
        4.3.1 单晶定向第39-40页
        4.3.2 残余应力测量第40-41页
        4.3.3 晶面数组数对结果的影响第41-43页
    4.4 改变检测点选择{2010}晶面族测单晶硅的残余应力第43-47页
        4.4.1 单晶定向第43-45页
        4.4.2 残余应力测量第45-46页
        4.4.3 晶面数组数对结果的影响第46-47页
    4.5 选择{217}晶面族测量单晶硅的残余应力第47-52页
        4.5.1 单晶定向第47-49页
        4.5.2 残余应力测量第49-50页
        4.5.3 晶面组数对结果的影响第50-52页
    4.6 选择{214}晶面族测量单晶硅的残余应力第52-56页
        4.6.1 单晶定向第52-53页
        4.6.2 残余应力测量第53-54页
        4.6.3 晶面组数对结果的影响第54-56页
    4.7 选择{218}晶面族测量单晶硅的残余应力第56-60页
        4.7.1 单晶定向第56-57页
        4.7.2 残余应力测量第57-58页
        4.7.3 晶面组数对结果的影响第58-60页
    4.8 晶面族对测量结果的影响第60-62页
    4.9 本章小结第62-63页
第5章 蓝宝石单晶残余应力的测量第63-74页
    5.1 引言第63页
    5.2 选择{330}晶面族测量蓝宝石单晶的残余应力第63-68页
        5.2.1 单晶定向第63-64页
        5.2.2 蓝宝石单晶应力测量第64-66页
        5.2.3 晶面组数的影响第66-68页
    5.3 选择{4010}晶面族测量蓝宝石单晶的残余应力第68-73页
        5.3.1 单晶定向第68-69页
        5.3.2 蓝宝石单晶应力测量第69-71页
        5.3.3 晶面组数的影响第71-73页
    5.4 本章小结第73-74页
结论第74-75页
参考文献第75-80页
攻读硕士学位期间发表的论文及其他成果第80-82页
致谢第82页

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