| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 本论文的设计目标 | 第9-10页 |
| 1.2 芯片测试技术 | 第10-11页 |
| 1.3 本文工作概述和内容安排 | 第11-13页 |
| 2 测试系统结构设计 | 第13-23页 |
| 2.1 红外图像信息预处理SoC V1.0 的功能与结构 | 第13-16页 |
| 2.2 测试系统框架的设计 | 第16-19页 |
| 2.3 测试系统硬件电路板设计 | 第19-20页 |
| 2.4 FPGA内部逻辑电路设计 | 第20-21页 |
| 2.5 测试系统上位机软件设计 | 第21页 |
| 2.6 本章小结 | 第21-23页 |
| 3 测试系统各硬件模块设计 | 第23-52页 |
| 3.1 液晶驱动矩形波幅值调整模块设计 | 第23-31页 |
| 3.2 探测器模拟信号调理模块设计 | 第31-38页 |
| 3.3 供电模块设计 | 第38-44页 |
| 3.4 PCB降噪设计 | 第44-49页 |
| 3.5 其他电路模块设计 | 第49-51页 |
| 3.6 本章小结 | 第51-52页 |
| 4 FPGA内部逻辑电路设计与上位机软件设计 | 第52-68页 |
| 4.1 FPGA内部逻辑电路设计 | 第52-63页 |
| 4.2 上位机软件设计 | 第63-67页 |
| 4.3 本章小结 | 第67-68页 |
| 5 SoC测试结果 | 第68-73页 |
| 5.1 红外图像信息预处理 SoC V1.0 数据路径测试结果 | 第68-72页 |
| 5.2 SoC性能测试结果 | 第72页 |
| 5.3 本章小结 | 第72-73页 |
| 6 总结与展望 | 第73-76页 |
| 6.1 全文总结 | 第73-75页 |
| 6.2 工作展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |