基于嵌入式ARM和Linux的电阻点焊监控器的研制
摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-24页 |
1.1 课题背景和研究意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究现状及分析 | 第12-23页 |
1.2.1 电阻点焊过程监测和质量预测方法 | 第12-20页 |
1.2.2 嵌入式Linux系统应用现状 | 第20-22页 |
1.2.3 小结 | 第22-23页 |
1.3 本文的主要工作 | 第23页 |
1.4 全文的组织与结构 | 第23-24页 |
第2章 点焊监控器硬件设计 | 第24-37页 |
2.1 引言 | 第24页 |
2.2 系统架构设计 | 第24-25页 |
2.3 模拟量与数字量信号处理部分设计 | 第25-29页 |
2.3.1 模拟量信号预处理电路 | 第25-27页 |
2.3.2 积分还原电路 | 第27-28页 |
2.3.3 数字量信号处理电路 | 第28-29页 |
2.4 工作核心部分硬件电路设计 | 第29-31页 |
2.5 Linux核心平台选用 | 第31-32页 |
2.6 工作核心底板设计 | 第32-33页 |
2.7 焊点信息和状态交互部分电路设计 | 第33-35页 |
2.8 系统实物 | 第35页 |
2.9 本章小结 | 第35-37页 |
第3章 点焊监控器软件开发 | 第37-63页 |
3.1 引言 | 第37页 |
3.2 ARM单片机程序设计 | 第37-39页 |
3.3 Linux平台开发环境构建 | 第39-45页 |
3.3.1 宿主机开发环境构建 | 第40页 |
3.3.2 目标机开发环境构建 | 第40-45页 |
3.4 Linux下应用程序开发 | 第45-54页 |
3.4.1 Linux下应用程序开发模式 | 第46-47页 |
3.4.2 Linux多进程和多线程实现 | 第47-49页 |
3.4.3 Linux下应用程序编程 | 第49-54页 |
3.5 Qt开发环境构建 | 第54-57页 |
3.5.1 主机Qt开发环境 | 第54-55页 |
3.5.2 嵌入式Qt开发环境 | 第55-57页 |
3.6 Qt应用程序开发 | 第57-59页 |
3.7 LabVIEW上位机软件开发 | 第59-62页 |
3.7.1 焊接过程数据实时监控程序 | 第59-60页 |
3.7.2 焊点数据在线查询程序 | 第60-62页 |
3.7.3 焊点文件离线读取程序 | 第62页 |
3.8 本章小结 | 第62-63页 |
第4章 点焊监控器现场验证 | 第63-76页 |
4.1 引言 | 第63页 |
4.2 实验条件 | 第63-67页 |
4.2.1 焊接设备介绍 | 第63-64页 |
4.2.2 现场接线安装 | 第64-67页 |
4.3 实验结果 | 第67-74页 |
4.3.1 信号提取结果 | 第67-69页 |
4.3.2 系统功能验证 | 第69-74页 |
4.3.3 中频直流电阻点焊实验 | 第74页 |
4.4 本章小结 | 第74-76页 |
第5章 数据处理与分析 | 第76-100页 |
5.1 引言 | 第76页 |
5.2 中频直流电阻焊计算模型 | 第76-81页 |
5.2.1 电路简化模型 | 第76-78页 |
5.2.2 电感剔除算法 | 第78-81页 |
5.3 电感剔除算法验证 | 第81-83页 |
5.3.1 算法实际效果 | 第81-82页 |
5.3.2 算法在电感计算中的应用 | 第82-83页 |
5.4 焊接参数对焊接过程影响 | 第83-88页 |
5.4.1 不同材料动态电阻特性 | 第83-85页 |
5.4.2 焊接电流对焊接过程影响 | 第85-86页 |
5.4.3 工件层数对焊接过程影响 | 第86-87页 |
5.4.4 不同板厚对焊接过程影响 | 第87-88页 |
5.5 焊接飞溅判别与预测 | 第88-98页 |
5.5.1 焊接飞溅识别 | 第88-90页 |
5.5.2 焊接飞溅预测模型-动态电阻特征量 | 第90-92页 |
5.5.3 焊接飞溅预测模型-算法简介 | 第92-96页 |
5.5.4 模型计算结果与讨论 | 第96-98页 |
5.6 本章小结 | 第98-100页 |
结论 | 第100-101页 |
参考文献 | 第101-105页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第105-107页 |
致谢 | 第107页 |