中文摘要 | 第10-12页 |
ABSTRACT | 第12-13页 |
第一章X射线CT概述 | 第15-21页 |
1.1 X射线CT的发展及应用 | 第15-17页 |
1.2 研究背景及意义 | 第17-18页 |
1.3 本文工作 | 第18-21页 |
第二章 Beam hardening effect产生机理及修正现状 | 第21-25页 |
2.1 Beam hardening产生机理 | 第21页 |
2.2 Beam-hardening的修正方法 | 第21-25页 |
2.2.1 滤波片修正方法 | 第22页 |
2.2.2 线性修正方法 | 第22-23页 |
2.2.3 迭代修正方法 | 第23页 |
2.2.4 双能修正方法 | 第23-24页 |
2.2.5 蒙特卡罗校正方法 | 第24-25页 |
第三章 X射线能谱物理过滤中近单色谱的获取及CT实验 | 第25-35页 |
3.1 X射线管工作原理 | 第25页 |
3.2 X射线源谱及穿过滤波片的衰减谱线的模拟 | 第25-29页 |
3.2.1 X射线源谱的模拟 | 第25-26页 |
3.2.2 源谱经过滤波片后的衰减谱 | 第26-29页 |
3.3 实际样品与标定样品尺寸比例 | 第29-30页 |
3.4 CT实验数据采集 | 第30-31页 |
3.5 CT投影图像预处理 | 第31-32页 |
3.6 本章小结 | 第32-35页 |
第四章 X射线断层扫描投影图像背景不一致的校准 | 第35-43页 |
4.1 引言 | 第35-36页 |
4.2 背景照度归一化 | 第36-38页 |
4.3 计算背景偏移量的互相关函数的最大值 | 第38-39页 |
4.4 基于背景偏移量的数据图像配准及背景扣除 | 第39-40页 |
4.4.1 基于背景偏移量的数据图像配准 | 第39-40页 |
4.4.2 背景扣除 | 第40页 |
4.5 投影图像的CT重建 | 第40-42页 |
4.6 本章小结 | 第42-43页 |
第五章 X射线CT投影图灰度数据的线束硬化校正 | 第43-55页 |
5.1 引言 | 第43页 |
5.2 X射线光路上标定样品的厚度计算 | 第43-52页 |
5.2.1 投影图中标定样品中心与光斑中心的水平方向距离 | 第43-45页 |
5.2.2 标定样品实际轴心和投影图中标定样品中心与光斑中心的距离y(n)的几何关系 | 第45-47页 |
5.2.3 标定样品轴心点P的初始相位θ以及旋转半径r | 第47-49页 |
5.2.4 投影图中各像素点对应的X射线穿透样品厚度 | 第49-52页 |
5.3 基于标定样品的校正模型 | 第52-53页 |
5.3.1 理论单色灰度数据与实际多色灰度数据 | 第52页 |
5.3.2 最小二乘法拟合函数校正模型 | 第52-53页 |
5.3.3 多光谱X射线CT投影数据单色化 | 第53页 |
5.4 CT投影图像实际校正结果 | 第53-54页 |
5.5 本章小结 | 第54-55页 |
第六章 总结及展望 | 第55-57页 |
6.1 全文总结 | 第55-56页 |
6.2 展望 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-63页 |
攻读学位期间取得的研究成果 | 第63-64页 |
致谢 | 第64-65页 |
个人简况及联系方式 | 第65-66页 |