摘要 | 第16-18页 |
ABSTRACT | 第18-20页 |
第一章 引言 | 第21-41页 |
1.1 物质的组成结构 | 第21-22页 |
1.2 标准模型 | 第22-26页 |
1.2.1 发展历程 | 第22页 |
1.2.2 最基本粒子 | 第22-24页 |
1.2.3 基本相互作用 | 第24-26页 |
1.2.3.1 电弱相互作用 | 第24-25页 |
1.2.3.2 强相互作用 | 第25-26页 |
1.3 强子谱简介 | 第26-27页 |
1.4 粲偶素与夸克势模型 | 第27-30页 |
1.4.1 势模型 | 第27-28页 |
1.4.2 粲偶素能谱 | 第28-29页 |
1.4.3 粲偶素跃迁 | 第29-30页 |
1.5 奇特强子态 | 第30-37页 |
1.5.1 新型强子结构 | 第32页 |
1.5.2 类粲偶素 | 第32-34页 |
1.5.3 奇特粲介子候选者 | 第34-37页 |
1.6 自然单位制 | 第37-38页 |
1.7 论文的选题 | 第38-41页 |
第二章 北京谱仪实验BESⅢ | 第41-65页 |
2.1 北京正负电子对撞机Ⅱ | 第41-42页 |
2.2 BESⅢ探测器 | 第42-55页 |
2.2.1 物理目标和总体性能 | 第44-46页 |
2.2.2 束流管 | 第46页 |
2.2.3 主漂移室 | 第46-51页 |
2.2.3.1 单元结构 | 第47-48页 |
2.2.3.2 丝层安排 | 第48-49页 |
2.2.3.3 性能参数 | 第49-51页 |
2.2.4 飞行时间计数器 | 第51页 |
2.2.5 电磁量能器 | 第51-52页 |
2.2.6 超导磁铁 | 第52-53页 |
2.2.7 缪子计数器 | 第53页 |
2.2.8 电子学系统 | 第53-54页 |
2.2.9 触发判选系统 | 第54-55页 |
2.2.10 数据获取系统 | 第55页 |
2.3 BESⅢ离线软件系统 | 第55-61页 |
2.3.1 BESⅢ离线软件框架 | 第56页 |
2.3.2 BESⅢ探测器MC模拟系统 | 第56-57页 |
2.3.3 BESⅢ中MC产生子 | 第57-58页 |
2.3.4 BESⅢ离线刻度及重建 | 第58-61页 |
2.3.4.1 主漂移室径迹重建与刻度 | 第59-60页 |
2.3.4.2 电离能损重建与刻度 | 第60页 |
2.3.4.3 TOF重建与刻度 | 第60页 |
2.3.4.4 EMC重建与刻度 | 第60页 |
2.3.4.5 MUC重建与刻度 | 第60-61页 |
2.3.5 BESⅢ物理分析软件 | 第61页 |
2.4 BESⅢ数据样本 | 第61-65页 |
2.4.1 离线质心系能量测量 | 第61-63页 |
2.4.2 离线积分亮度和事例总数测量 | 第63-65页 |
第三章 通过e~+e~-→γπ~+π~-J/ψ过程研究X(3872)与矢量类粲偶素的关联 | 第65-81页 |
3.1 研究背景及简介 | 第65-66页 |
3.2 蒙特卡洛模拟及所用数据样本 | 第66-67页 |
3.3 事例选择条件 | 第67-69页 |
3.4 本底分析 | 第69-71页 |
3.5 质量测量 | 第71-75页 |
3.6 玻恩截面测量 | 第75-77页 |
3.7 系统误差分析 | 第77-80页 |
3.7.1 质量测量的系统误差 | 第77-78页 |
3.7.2 截面测量的系统误差 | 第78-80页 |
3.8 总结与讨论 | 第80-81页 |
第四章 通过e~+e~-→γφJ/ψ过程寻找Y(4140) | 第81-99页 |
4.1 研究背景及简介 | 第81-82页 |
4.2 数据样本和MC模拟 | 第82-83页 |
4.3 事例选择条件 | 第83-92页 |
4.3.1 φ→K~+K~- | 第83-87页 |
4.3.2 φ→K_S~0K_L~0 | 第87-89页 |
4.3.3 φ→π~+π~-π~0 | 第89-92页 |
4.4 玻恩截面测量 | 第92-95页 |
4.5 系统误差分析 | 第95-96页 |
4.6 总结与讨论 | 第96-99页 |
第五章 通过e~+e~-→ηφf_0过程研究Y(2175)与矢量(类)粲偶素的关联 | 第99-115页 |
5.1 研究背景及简介 | 第99-100页 |
5.2 所用数据和蒙特卡洛模拟 | 第100-101页 |
5.3 事例选择条件及本底分析 | 第101-103页 |
5.4 玻恩截面测量 | 第103-106页 |
5.5 寻找中间共振态Z_s~± | 第106-107页 |
5.6 寻找ψ(3686)→ηY(2175) | 第107-109页 |
5.7 寻找e~+e~-→η'Y(2175)的过程 | 第109-110页 |
5.8 系统误差分析 | 第110-111页 |
5.8.1 截面测量的系统误差 | 第110-111页 |
5.9 Y(2175)质量与宽度测量的系统误差 | 第111-113页 |
5.9.1 分支比B(ψ,(3686)→ηY(2175))的系统误差 | 第112页 |
5.9.2 比例R=σ(e~+e~-→ηY(2175)/σ(e~+e~-→η'Y(2175))的系统误差 | 第112-113页 |
5.10 总结与讨论 | 第113-115页 |
第六章 首次测量绝对分支比D_(s0)~*(2317)→π~0D_s | 第115-127页 |
6.1 研究背景及简介 | 第115-116页 |
6.2 数据样本及蒙特卡洛模拟 | 第116页 |
6.3 分析方法 | 第116-120页 |
6.3.1 重建D_s~(*+) | 第117-119页 |
6.3.2 部分重建D_(s0)~*(2317)~- | 第119页 |
6.3.3 优化选择条件及本底研究 | 第119-120页 |
6.4 测量绝对分支比 | 第120-123页 |
6.5 系统误差分析 | 第123-126页 |
6.5.1 绝对分支比B(D_(s0)~*(2317)~-→π~0D_s~-)的系统误差 | 第123-125页 |
6.5.2 质量测量的系统误差 | 第125-126页 |
6.6 总结与讨论 | 第126-127页 |
第七章 精确测量e~+e~-→ D_s~+D_s~-的截面 | 第127-145页 |
7.1 研究背景及简介 | 第127-128页 |
7.2 数据样本和MC模拟 | 第128-130页 |
7.3 分析方法 | 第130页 |
7.4 事例选择条件 | 第130-133页 |
7.5 提取信号事例数 | 第133-138页 |
7.5.1 大样本数据 | 第135页 |
7.5.2 扫描数据 | 第135-138页 |
7.6 玻恩截面测量 | 第138-140页 |
7.6.1 辐射修正 | 第138-139页 |
7.6.2 合并重建D_s~+和D_s~-测量结果 | 第139-140页 |
7.7 系统误差分析 | 第140-141页 |
7.8 总结与讨论 | 第141-145页 |
第八章 总结与展望 | 第145-149页 |
参考文献 | 第149-157页 |
博士期间发表的论文 | 第157-159页 |
致谢 | 第159-161页 |
附表 | 第161页 |