| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第14-19页 |
| 1.1 本课题研究背景与意义 | 第14-15页 |
| 1.2 基于机器视觉磁材缺陷检测研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第16-19页 |
| 1.3.1 检测内容及要求 | 第16-17页 |
| 1.3.2 磁环缺陷检测的难点 | 第17-18页 |
| 1.3.3 本文的章节安排 | 第18-19页 |
| 第二章 磁环缺陷检测系统设计 | 第19-28页 |
| 2.1 磁环检测系统硬件设计 | 第19-25页 |
| 2.1.1 机器视觉装置设计 | 第20-25页 |
| 2.1.2 机械结构设计 | 第25页 |
| 2.2 磁环图像处理系统 | 第25-27页 |
| 2.3 磁环表面缺陷检测实验装置搭建 | 第27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 磁环图像预处理算法 | 第28-45页 |
| 3.1 磁环图像灰度变换 | 第28-31页 |
| 3.1.1 直方图均衡化 | 第28-29页 |
| 3.1.2 全局线性变换 | 第29-30页 |
| 3.1.3 分段线性灰度增强 | 第30-31页 |
| 3.2 磁环图像滤波 | 第31-36页 |
| 3.2.1 磁环图像噪声分析 | 第31-32页 |
| 3.2.2 均值滤波 | 第32-33页 |
| 3.2.3 中值滤波 | 第33页 |
| 3.2.4 K近邻中值滤波 | 第33-34页 |
| 3.2.5 改进的中值滤波 | 第34页 |
| 3.2.6 实验仿真与分析 | 第34-36页 |
| 3.3 磁环图像分割算法 | 第36-44页 |
| 3.3.1 基于磁环图像阈值分割算法 | 第37-39页 |
| 3.3.2 基于磁环图像边缘检测 | 第39-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 磁环尺寸测量 | 第45-53页 |
| 4.1 相机标定 | 第45页 |
| 4.2 磁环内外径尺寸测量 | 第45-51页 |
| 4.2.1 霍夫圆检测 | 第46-47页 |
| 4.2.2 三点法 | 第47-48页 |
| 4.2.3 最小二乘法 | 第48-49页 |
| 4.2.4 实验仿真与分析 | 第49-51页 |
| 4.3 磁环高度测量 | 第51-52页 |
| 4.4 实验仿真与分析 | 第52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 磁环表面缺陷检测 | 第53-69页 |
| 5.1 磁环背景区域屏蔽 | 第53页 |
| 5.2 基于掩模技术的磁环表面缺陷提取 | 第53-59页 |
| 5.2.1 磁环表面缺陷提取原理 | 第53-55页 |
| 5.2.2 第一类磁环缺陷提取方法 | 第55-56页 |
| 5.2.3 第二类磁环缺陷提取方法 | 第56-57页 |
| 5.2.4 实验仿真与分析 | 第57-59页 |
| 5.3 基于纹理抑制的磁环表面缺陷检测方法 | 第59-68页 |
| 5.3.1 磁环图像表面分析 | 第59-60页 |
| 5.3.2 基于纹理抑制改进的Canny边缘检测算法 | 第60-62页 |
| 5.3.3 磁环表面缺陷提取 | 第62-63页 |
| 5.3.4 实验仿真与分析 | 第63-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 攻读硕士学位期间研究成果 | 第75页 |