| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 1 引言 | 第11-23页 |
| ·成像光谱技术概述 | 第11-13页 |
| ·国内外红外成像光谱技术发展现状 | 第13-20页 |
| ·中短波红外光谱成像技术瓶颈 | 第20-21页 |
| ·本课题研究意义及内容安排 | 第21-23页 |
| 2 红外光谱成像系统技术分析 | 第23-43页 |
| ·红外光谱成像系统设计的核心思路 | 第23-24页 |
| ·分光技术类型 | 第24-28页 |
| ·谐衍射型分光技术 | 第24-26页 |
| ·干涉型分光技术 | 第26页 |
| ·棱镜/光栅色散型分光技术 | 第26-27页 |
| ·滤光片分光技术 | 第27-28页 |
| ·分光方式的优选分析 | 第28-39页 |
| ·光谱分辨率 | 第29页 |
| ·引入仪器背景辐射与大气散射修正的灵敏度模型 | 第29-39页 |
| ·阶跃集成滤光片设计研究 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 3 高精度匹配结构设计仿真与安装研究 | 第43-64页 |
| ·集成滤光片—焦平面的高精度匹配结构设计 | 第43-50页 |
| ·探测器内部具体结构 | 第43-44页 |
| ·集成滤光片—焦平面匹配结构设计 | 第44-48页 |
| ·集成滤光片—焦平面对中标记的设计 | 第48-50页 |
| ·集成滤光片—焦平面高精度匹配结构的力学仿真 | 第50-58页 |
| ·静力学分析 | 第51-57页 |
| ·热力学分析 | 第57-58页 |
| ·集成滤光片—焦平面高精度匹配结构的安装方法 | 第58-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 4 阶跃集成滤光片的后安装检测方法研究 | 第64-92页 |
| ·后安装检测的意义 | 第64-65页 |
| ·算法设计 | 第65-76页 |
| ·投影原理 | 第65-66页 |
| ·平行光的需求分析及产生 | 第66-68页 |
| ·基于最小二乘线性回归的直线边沿亚像素定位方法 | 第68页 |
| ·基于面积的最小二乘直线边沿亚像素定位方法 | 第68-71页 |
| ·基于Zernike正交矩的直线边沿亚像素定位方法 | 第71-76页 |
| ·信息获取电子学系统实现研究 | 第76-87页 |
| ·偏压生成 | 第78-80页 |
| ·模拟信号调理模块 | 第80-84页 |
| ·电子学系统主控 | 第84-85页 |
| ·电子学信息获取系统的噪声测量 | 第85-87页 |
| ·集成滤光片后安装检测结果及评估 | 第87-91页 |
| ·轻微冲击下集成滤光片安装的可靠性研究 | 第90-91页 |
| ·本章小结 | 第91-92页 |
| 5 集成滤光片带外干扰及光谱定标研究 | 第92-123页 |
| ·信息预处理研究 | 第92-100页 |
| ·探测器的非均匀性处理研究 | 第92-97页 |
| ·盲元检测方法的研究 | 第97-100页 |
| ·光谱带外辐射干扰 | 第100-109页 |
| ·带外辐射干扰方法研究 | 第102-106页 |
| ·带外辐射干扰研究方法误差分析 | 第106-109页 |
| ·光谱标定方法 | 第109-118页 |
| ·基于单色仪的光谱定标 | 第109-111页 |
| ·基于高斯模板最优逼近的光谱定标 | 第111-118页 |
| ·平台姿态误差影响研究 | 第118-122页 |
| ·本章小结 | 第122-123页 |
| 6 综合成像实验 | 第123-131页 |
| ·高光谱成像实验 | 第123-131页 |
| 7 总结与展望 | 第131-134页 |
| 参考文献 | 第134-137页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第137页 |