几何弯曲条件下向列相-1/2缺陷的理论研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·液晶中的缺陷 | 第8-9页 |
| ·几何沟槽表面的研究背景 | 第9-10页 |
| ·有序重构 | 第10-12页 |
| ·本文主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 理论基础与数值模拟 | 第14-20页 |
| ·几何沟槽表面的液晶盒模型 | 第14页 |
| ·液晶的Landau-de Gennes理论 | 第14-17页 |
| ·序参数与双轴性 | 第14-15页 |
| ·自由能 | 第15-16页 |
| ·平衡态方程及其约化 | 第16-17页 |
| ·数值模拟 | 第17-20页 |
| 第三章 面缺陷和体缺陷 | 第20-28页 |
| ·面缺陷和体缺陷出现的机理和特性 | 第20-21页 |
| ·沟槽的波长对体缺陷和面缺陷性质的影响 | 第21-23页 |
| ·体缺陷和面缺陷的相互转换 | 第23-28页 |
| ·面缺陷合并----缓慢消失模式 | 第23-25页 |
| ·盒厚的作用 | 第23-24页 |
| ·振幅的作用 | 第24-25页 |
| ·面缺陷合并----快速消失模式 | 第25-28页 |
| ·盒厚的作用 | 第25-27页 |
| ·振幅的作用 | 第27-28页 |
| 第四章 面缺陷和体缺陷的有序重构 | 第28-36页 |
| ·面缺陷的有序重构 | 第28-31页 |
| ·体缺陷的有序重构 | 第31-33页 |
| ·几何沟槽对面缺陷有序重构的影响 | 第33-36页 |
| ·波长对液晶盒内面缺陷有序重构的影响 | 第33-34页 |
| ·振幅对液晶盒内面缺陷有序重构的影响 | 第34-36页 |
| 第五章 其他结论 | 第36-42页 |
| ·液晶盒左右边界对缺陷的影响 | 第36-39页 |
| ·左右边界对面缺陷合并的影响 | 第37-38页 |
| ·左右边界影响体缺陷的符号 | 第38-39页 |
| ·缺陷的难观测性 | 第39-40页 |
| ·面缺陷的最大双轴性减弱 | 第40-42页 |
| ·盒厚对最大双轴性的影响 | 第40-41页 |
| ·沟槽的振幅对最大双轴性的影响 | 第41-42页 |
| 第六章 结论 | 第42-44页 |
| 参考文献 | 第44-48页 |
| 附录A 平衡态方程的推导 | 第48-50页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52页 |
