基于等效伪差分的特性阻抗测试技术与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-16页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-13页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·研究意义 | 第11-13页 |
| ·国内外发展现状和趋势 | 第13-15页 |
| ·本文内容 | 第15-16页 |
| 第二章 特性阻抗测试技术原理与方案设计 | 第16-27页 |
| ·传输线理论分析 | 第16-21页 |
| ·均匀传输线 | 第16-17页 |
| ·均匀传输线方程 | 第17-19页 |
| ·均匀传输线反射系数 | 第19-21页 |
| ·时域反射测量方法 | 第21-25页 |
| ·基本原理 | 第21-23页 |
| ·TDR性能影响因素 | 第23-25页 |
| ·总体设计方案 | 第25-26页 |
| ·数字电路设计方案 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 差分特性阻抗测试技术与校准方法 | 第27-46页 |
| ·差分基本概念 | 第27-29页 |
| ·差分信号和共模信号 | 第27-28页 |
| ·差分阻抗和共模阻抗 | 第28页 |
| ·奇模和偶模电压 | 第28-29页 |
| ·差分阻抗测量方法 | 第29-41页 |
| ·真差分测量 | 第30-31页 |
| ·伪差分 | 第31-33页 |
| ·等效伪差分 | 第33-41页 |
| ·差分校准 | 第41-45页 |
| ·校准方法 | 第41-42页 |
| ·校准步骤 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 ADCC数据采集系统设计 | 第46-58页 |
| ·ADC工作原理 | 第46-47页 |
| ·采样方法设计 | 第47-51页 |
| ·采样方式 | 第47-49页 |
| ·延时实现 | 第49-51页 |
| ·ADC电路设计 | 第51-56页 |
| ·基准电压电路 | 第52-54页 |
| ·前端模拟调理电路 | 第54-55页 |
| ·时钟电路 | 第55-56页 |
| ·ADC性能测试 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 基于FPGA的控制和数据预处理系统设计 | 第58-77页 |
| ·电路设计 | 第58-61页 |
| ·FPGA选型和配置 | 第58-60页 |
| ·电源电路设计 | 第60页 |
| ·数据传输电路设计 | 第60-61页 |
| ·FPGA逻辑控制模块设计 | 第61-67页 |
| ·FPGA和DSP通信 | 第62-64页 |
| ·测试区域和通道控制 | 第64-65页 |
| ·ADC系统控制 | 第65-67页 |
| ·基于FPGA的FIR设计 | 第67-74页 |
| ·FIR数字滤波器设计方法 | 第67-69页 |
| ·FIR设计的优化 | 第69-71页 |
| ·FIR的实现 | 第71-73页 |
| ·测试结果 | 第73-74页 |
| ·整机测试结果 | 第74-76页 |
| ·单端测试 | 第74-75页 |
| ·差分测试 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第六章 总结 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 研究生期间的研究成果 | 第82页 |
