光电子能谱线站的建设及Cu/3C-SiC界面的研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-38页 |
| ·同步辐射简介 | 第13-16页 |
| ·同步辐射的优点 | 第13-14页 |
| ·同步辐射装置 | 第14-16页 |
| ·光电子能谱分析 | 第16-20页 |
| ·光电子能谱概述 | 第16-18页 |
| ·半球型能量分析器的原理 | 第18-19页 |
| ·NSRL光电子能谱站的设备 | 第19-20页 |
| ·光电子能谱光束线的发展概况 | 第20-25页 |
| ·金属/SiC界面的研究 | 第25-36页 |
| ·SiC的各种结构 | 第25-28页 |
| ·SiC的性质 | 第28-30页 |
| ·SiC的应用 | 第30-31页 |
| ·金属/半导体接触 | 第31-33页 |
| ·肖特基势垒的测试方法 | 第33-35页 |
| ·金属/SiC界面研究概况 | 第35-36页 |
| ·本论文的选题 | 第36-38页 |
| 第2章 光电子能谱光束线的设计 | 第38-52页 |
| ·改造的目的及意义 | 第38-39页 |
| ·改造的方案 | 第39-45页 |
| ·前置系统 | 第39-42页 |
| ·单色器 | 第42-45页 |
| ·后置系统 | 第45页 |
| ·改造的内容 | 第45-46页 |
| ·改造的技术指标 | 第46-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第3章 光束线的安装、调试及测试 | 第52-75页 |
| ·安装调试 | 第52-61页 |
| ·准备工作 | 第52-54页 |
| ·前置系统 | 第54-56页 |
| ·入射狭缝 | 第56页 |
| ·单色器 | 第56-59页 |
| ·出射狭缝 | 第59页 |
| ·后置系统 | 第59-61页 |
| ·光通量及分辨本领的测试 | 第61-68页 |
| ·分辨本领的测试 | 第61-66页 |
| ·光通量的测试 | 第66-68页 |
| ·光子能量标定 | 第68-74页 |
| ·零级扫描 | 第68-70页 |
| ·正弦杆长度修正 | 第70-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第4章 光电子能谱站控制系统的改造 | 第75-94页 |
| ·硬件方面 | 第75-83页 |
| ·总体结构 | 第75-76页 |
| ·各部分功能 | 第76-81页 |
| ·系统的工作流程 | 第81-83页 |
| ·改造后的优点 | 第83页 |
| ·软件方面 | 第83-93页 |
| ·通讯方式 | 第83-84页 |
| ·软件设计系统的结构 | 第84-85页 |
| ·软件实现的功能 | 第85页 |
| ·软件的总体结构及各模块实验参数的设置流程 | 第85-91页 |
| ·改造后的优点 | 第91-92页 |
| ·分析器精度测试 | 第92-93页 |
| ·本章小结 | 第93-94页 |
| 第5章 Cu/3C-SiC界面的研究 | 第94-108页 |
| ·研究的意义 | 第94-96页 |
| ·3C-SiC的制备 | 第96-101页 |
| ·Cu/3C-SiC界面的研究 | 第101-107页 |
| ·实验 | 第101-102页 |
| ·结果与讨论 | 第102-107页 |
| ·本章小结 | 第107-108页 |
| 参考文献 | 第108-117页 |
| 致谢 | 第117-118页 |
| 研究生在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第118页 |
