高速高精度ADC测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| ·研究意义 | 第10页 |
| ·国内外研究现状与进展 | 第10-12页 |
| ·论文的主要内容 | 第12-14页 |
| 第二章 ADC基本指标和测试方法 | 第14-25页 |
| ·ADC基本指标 | 第14-18页 |
| ·静态指标 | 第14-16页 |
| ·量化误差 | 第14页 |
| ·偏移误差、增益误差、满刻度误差 | 第14-15页 |
| ·微分非线性 | 第15页 |
| ·积分非线性 | 第15-16页 |
| ·动态指标 | 第16-18页 |
| ·信噪比 | 第16-17页 |
| ·无杂散动态范围 | 第17页 |
| ·总谐波失真 | 第17页 |
| ·信号与噪声失真比 | 第17页 |
| ·有效位数 | 第17-18页 |
| ·ADC基本测试方法 | 第18-25页 |
| ·直方图测试法 | 第19-20页 |
| ·FFT测试法 | 第20-25页 |
| 第三章 ADS822评估板原理设计 | 第25-49页 |
| ·ADC评估板的组成 | 第25-31页 |
| ·ADC的输入结构 | 第31-32页 |
| ·使用 OPA690驱动ADS822 | 第32-45页 |
| ·建立时间分析 | 第33-36页 |
| ·RC低通滤波器的考虑 | 第36-39页 |
| ·开环增益分析 | 第39-41页 |
| ·带宽分析 | 第41-42页 |
| ·噪声分析 | 第42-44页 |
| ·其它 | 第44-45页 |
| ·全差分运放和射频变换器的比较 | 第45-46页 |
| ·使用THS4501驱动AD5822 | 第46-47页 |
| ·ADS822评估板的原理图 | 第47-49页 |
| 第四章 ADS822评估板布板设计 | 第49-66页 |
| ·高速PCB板设计的基本理论 | 第49-53页 |
| ·信号完整性 | 第49-50页 |
| ·电源完整性 | 第50-52页 |
| ·电磁兼容 | 第52-53页 |
| ·噪声性能与EMI折中 | 第53-59页 |
| ·去耦设计 | 第53-56页 |
| ·ADC输出端的去噪 | 第56-57页 |
| ·信号回流与评估板分层 | 第57-59页 |
| ·ADS822评估板布局布线图 | 第59-63页 |
| ·ADS822评估板材料清单 | 第63-66页 |
| 第五章 ADS822测试系统 | 第66-72页 |
| ·系统组成及指标要求 | 第66-67页 |
| ·时钟设计 | 第67-69页 |
| ·实验室现有的仪器设备及基本性能 | 第69-70页 |
| ·直方图与FFT测试关于采样点数的考虑 | 第70-71页 |
| ·ADS822测试系统及其它 | 第71-72页 |
| 第六章 实际测试 | 第72-75页 |
| ·测试方案 | 第72-73页 |
| ·测试结果 | 第73-75页 |
| 第七章 结论 | 第75-77页 |
| ·结论 | 第75-76页 |
| ·可改进的地方 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第82页 |
