基于近红外成像技术的炉内工件比色测温系统
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-12页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第8-11页 |
| ·本文的主要内容 | 第11页 |
| ·本论文的创新点 | 第11-12页 |
| 第2章 比色测温原理 | 第12-24页 |
| ·高温测量简介 | 第12-13页 |
| ·接触式测温方法 | 第12-13页 |
| ·非接触式测温方法 | 第13页 |
| ·辐射测温原理 | 第13-19页 |
| ·热辐射基本概念 | 第13-15页 |
| ·热辐射基本定律 | 第15-19页 |
| ·比色测温法 | 第19-24页 |
| ·比色测温原理 | 第19-20页 |
| ·图像的灰度值与温度 | 第20-22页 |
| ·比色测温法的优点 | 第22-24页 |
| 第3章 CCD工作原理及近红外成像技术 | 第24-36页 |
| ·CCD工作原理 | 第24-29页 |
| ·电荷存储 | 第24-26页 |
| ·电荷耦合 | 第26-27页 |
| ·电荷的注入和检测 | 第27-28页 |
| ·CCD的特性参数 | 第28-29页 |
| ·面阵CCD摄像器件的特性 | 第29-31页 |
| ·分辨率 | 第29-31页 |
| ·灵敏度 | 第31页 |
| ·噪声和动态范围 | 第31页 |
| ·近红外成像技术 | 第31-36页 |
| ·近红外技术概述 | 第31-33页 |
| ·近红外 CCD(NICCD)成像分析 | 第33-36页 |
| 第4章 系统结构组成及其软件设计 | 第36-45页 |
| ·炉内工件比色测温系统结构组成 | 第36-42页 |
| ·分光镜 | 第36-37页 |
| ·滤波片的选择 | 第37-39页 |
| ·CCD的选型 | 第39-41页 |
| ·图像采集卡 | 第41页 |
| ·光学系统 | 第41页 |
| ·辅助系统 | 第41-42页 |
| ·系统软件设计 | 第42-44页 |
| ·软件设计流程 | 第42页 |
| ·图像预处理 | 第42-43页 |
| ·温度场显示 | 第43-44页 |
| ·温度变化率曲线显示及温度参数诊断 | 第44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第5章 测温系统误差分析 | 第45-53页 |
| ·测量误差简述 | 第45-46页 |
| ·测量误差的主要来源 | 第45-46页 |
| ·测量误差的分类 | 第46页 |
| ·系统误差分析 | 第46-48页 |
| ·灰度假设误差 | 第46页 |
| ·滤波片带宽误差 | 第46页 |
| ·光学镜片误差 | 第46-47页 |
| ·CCD摄像机误差 | 第47-48页 |
| ·系统标定和误差修正 | 第48-49页 |
| ·实验数据分析 | 第49-52页 |
| ·实验及K值标定 | 第49页 |
| ·滤波去噪 | 第49-50页 |
| ·误差插值修正 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第6章 结论 | 第53-55页 |
| ·工作回顾 | 第53页 |
| ·结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第58页 |
