数字T/R组件测试技术研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-9页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·问题提出 | 第8页 |
| ·论文结构 | 第8-9页 |
| 2 数字T/R组件的工作原理与性能指标 | 第9-17页 |
| ·数字T/R组件的工作原理 | 第9页 |
| ·数字接收机 | 第9-11页 |
| ·模数转换器 | 第10-11页 |
| ·数字正交解调器 | 第11页 |
| ·直接数字频率合成器 | 第11-14页 |
| ·数字T/R组件的性能指标 | 第14-17页 |
| ·数字T/R组件接收支路的性能指标 | 第14-16页 |
| ·数字T/R组件发射支路的性能指标 | 第16-17页 |
| 3 数字T/R组件测试系统方案设计 | 第17-25页 |
| ·数字T/R组件测试系统组成 | 第17-19页 |
| ·数字T/R组件测试系统框图 | 第17-18页 |
| ·数字T/R组件的测试过程 | 第18-19页 |
| ·测试仪器 | 第19-21页 |
| ·逻辑分析仪 | 第19-20页 |
| ·数字存储示波器 | 第20-21页 |
| ·信号源 | 第21页 |
| ·USB/GPIB接口转换器 | 第21页 |
| ·测试控制器 | 第21页 |
| ·GPIB标准接口系统 | 第21-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 4 数字T/R组件性能指标的测试算法 | 第25-48页 |
| ·数字频谱分析 | 第25-33页 |
| ·数字频谱分析的基本流程 | 第25页 |
| ·数字频谱分析的基础 | 第25-28页 |
| ·窗函数 | 第28-31页 |
| ·选择合适的记录长度 | 第31-32页 |
| ·采样频率的选择 | 第32-33页 |
| ·谱平均处理 | 第33页 |
| ·接收支路性能指标的测试算法 | 第33-42页 |
| ·ADC指标的测试算法 | 第33-37页 |
| ·数字正交解调器指标的测试算法 | 第37-39页 |
| ·接收支路一致性指标的测试算法 | 第39-42页 |
| ·发射支路性能指标的测试算法 | 第42-47页 |
| ·线性调频脉冲信号 | 第43-44页 |
| ·DDS指标的测试算法 | 第44页 |
| ·发射信号质量指标的测试算法 | 第44页 |
| ·发射支路一致性指标的测试算法 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 数字T/R组件测试系统的软件设计 | 第48-61页 |
| ·测试系统软件设计 | 第48页 |
| ·测试控制软件设计 | 第48页 |
| ·数据处理软件设计 | 第48-52页 |
| ·接收支路测试数据处理软件设计 | 第48页 |
| ·发射支路测试数据处理软件设计 | 第48-52页 |
| ·测试仪器程控的组件库 | 第52-60页 |
| ·GPIB总线协议 | 第52-57页 |
| ·仪器程控的组件库 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结束语 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-64页 |
