| 摘要 | 第1-9页 |
| Abstract | 第9-11页 |
| 第一章 文献综述 | 第11-29页 |
| ·快离子导体陶瓷 | 第11-13页 |
| ·质子导体固体电解质 | 第13-27页 |
| ·无机质子导体的类型 | 第14-16页 |
| ·ABO_3钙钛矿型氧化物质子导体 | 第16-27页 |
| ·ABO_3钙钛矿型氧化物质子导体的结构 | 第16-17页 |
| ·ABO_3钙钛矿型氧化物质子导体的传导机理 | 第17-20页 |
| ·ABO_3钙钛矿型氧化物质子导体的应用 | 第20-27页 |
| ·选题的目标和意义 | 第27-29页 |
| 第二章 实验部分 | 第29-37页 |
| ·无机固体电解质的制备方法 | 第29-33页 |
| ·粉体的合成 | 第29-31页 |
| ·固相法 | 第29页 |
| ·气相法 | 第29-30页 |
| ·液相法 | 第30-31页 |
| ·素坯的成型 | 第31-32页 |
| ·材料的烧结 | 第32-33页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xM_(0.1)O_(3-δ)(M=Gd、Nd)质子导体陶瓷制备的实验过程 | 第33-36页 |
| ·Pechini法制备陶瓷粉体的流程 | 第33-34页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xM_(0.1)O_(3-δ)(M=Gd、Nd)质子导体陶瓷片的制备和性能测试 | 第34-36页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xM_(0.1)O_(3-δ)(M=Gd、Nd)质子导体陶瓷的制备和测试中所用的设备 | 第36-37页 |
| 第三章 BaCe_(0.9-x)Zr_xGd_(0.1)O_(3-δ)质子导体陶瓷体系的研究 | 第37-48页 |
| ·实验过程 | 第38-40页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xGd_(0.1)O_(3-δ)的制备过程 | 第38-39页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xGd_(0.1)O_(3-δ)的表征 | 第39-40页 |
| ·样品前驱体的热重差热分析(TG-DTA) | 第39页 |
| ·粉体的X射线衍射分析(XRD) | 第39页 |
| ·粉体的粒度分析 | 第39-40页 |
| ·结果与讨论 | 第40-47页 |
| ·样品前驱体的热重差热分析(TG-DTA) | 第40-41页 |
| ·X射线衍射结果分析 | 第41-43页 |
| ·粉体的粒度分布 | 第43-45页 |
| ·粉体的烧结性能 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 BaCe_(0.9-x)Zr_xNd_(0.1)O_(3-δ)质子导体陶瓷体系的研究 | 第48-58页 |
| ·实验过程 | 第48-50页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xNd_(0.1)O_(3-δ)的制备过程 | 第48-49页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xNd_(0.1)O_(3-δ)的表征 | 第49-50页 |
| ·结果与讨论 | 第50-57页 |
| ·样品前驱体的热重差热分析(TG-DTA) | 第50页 |
| ·X射线衍射结果分析 | 第50-53页 |
| ·粉体的粒度分布 | 第53-55页 |
| ·粉体的烧结性能 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 BaCe_(0.9-x)Zr_xM_(0.1)O_(3-δ)(M=Gd、Nd)质子导体的电性能测试 | 第58-80页 |
| ·电导率的有关概念 | 第58-59页 |
| ·电导率 | 第58-59页 |
| ·决定电导率的基本参数 | 第59页 |
| ·离子电导率的测量 | 第59-62页 |
| ·交流主抗谱测量固体电解质离子电导率的原理 | 第60-61页 |
| ·实际固体电解质的主抗谱解析 | 第61-62页 |
| ·BaCe_(0.9-x)Zr_xM_(0.1)O_(3-δ)(M=Gd、Nd)质子导体的电导率的测试 | 第62-79页 |
| ·电化学阻抗谱实验装置 | 第63-64页 |
| ·温度对电导率的影响 | 第64-71页 |
| ·Zr取代量对电导率的影响 | 第71-75页 |
| ·掺杂离子种类(半径)对电导率的影响 | 第75-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 结论 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-92页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
