| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-19页 |
| §1.1 磁记录材料的概述 | 第6-7页 |
| §1.2 磁记录介质的重要参量与性能表征 | 第7-12页 |
| §1.3 磁记录介质的研究概况及其面临的技术问题 | 第12-13页 |
| §1.4 高密磁记录技术的发展 | 第13-16页 |
| §1.5 本文选题思路及主要研究工作 | 第16-19页 |
| 第二章 薄膜样品的制备技术及检测 | 第19-30页 |
| §2.1 薄膜样品的制备技术及原理 | 第19-24页 |
| §2.2 薄膜样品的测试及原理 | 第24-30页 |
| 第三章 实验内容 | 第30-49页 |
| §3.1 Ti衬底层厚度(t)对FePt/Ti颗粒膜的微结构和磁特性的影响 | 第30-36页 |
| §3.2 退火温度(T_a)对FePt/Ti颗粒膜的微结构和磁特性的影响 | 第36-40页 |
| §3.3 衬底层中Ti含量对FePt/Ti_x(FePt)_(1-x)颗粒膜的微结构和磁特性的影响 | 第40-45页 |
| §3.4 基片温度(T_s)对FePt/(FePt)_(27)Ti_(73)颗粒膜的微结构和磁特性的影响 | 第45-49页 |
| 第四章 结论 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 硕士期间发表论文情况 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54页 |