| 第1章 绪论 | 第1-16页 |
| 1．1 天线近场扫描技术概述 | 第8-10页 |
| 1．2 天线平面近场测量发展概况 | 第10-12页 |
| 1．3 超低旁瓣天线平面近场测量误差概述 | 第12-14页 |
| 1．4 选题意义和成果 | 第14-15页 |
| 1．4．1 选题背景和意义 | 第14页 |
| 1．4．2 取得的成果 | 第14-15页 |
| 1．5 章节安排 | 第15-16页 |
| 第2章 基础理论知识 | 第16-32页 |
| 2．1 积分的驻相法 | 第16-18页 |
| 2．2 矢量的泰勒(Taylor)级数展开 | 第18-19页 |
| 2．3 阵列天线介绍 | 第19-22页 |
| 2．3．1 引言 | 第19-20页 |
| 2．3．2 电流分布介绍 | 第20-22页 |
| 2．4 综合平面波理论 | 第22-24页 |
| 2．5 平面近场测量的基本理论 | 第24-27页 |
| 2．6 探头补偿原理 | 第27页 |
| 2．7 波谱的离散输出表 | 第27-31页 |
| 2．8 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 旁瓣测量误差与近场幅相误差、天线相关参数的关系 | 第32-46页 |
| 3．1 波谱概率密度表达式 | 第32-41页 |
| 3．2 旁瓣测量误差与近场幅相误差、天线相关参数的关系 | 第41-44页 |
| 3．3 结果分析 | 第44-45页 |
| 3．4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 扫描面位置误差研究 | 第46-62页 |
| 4．1 扫描面位置误差引入的近场误差 | 第46-47页 |
| 4．2 扫描面位置误差引入的远场误差 | 第47页 |
| 4．3 扫描面z向误差引入的远场误差表达式 | 第47-50页 |
| 4．4 扫描面位置误差引入的远场误差上界 | 第50-53页 |
| 4．5 扫描面位置误差仿真分析 | 第53-56页 |
| 4．5．1 仿真步骤 | 第53-54页 |
| 4．5．2 仿真条件 | 第54页 |
| 4．5．3 扫描面位置误差仿真图形 | 第54-56页 |
| 4．6 扫描面位置误差补偿方法 | 第56-61页 |
| 4．6．1 修正扫描面位置误差的基本思想 | 第57-59页 |
| 4．6．2 预处理求扫描面近似近场 | 第59-61页 |
| 4．7 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 测量仪器误差研究 | 第62-74页 |
| 5．1 仪器误差和近场误差的关系 | 第62页 |
| 5．2 仪器误差和远场误差的关系 | 第62-63页 |
| 5．3 仪器误差和远场误差上界的关系 | 第63-67页 |
| 5．4 仪器误差仿真分析 | 第67-71页 |
| 5．4．1 仿真步骤 | 第67页 |
| 5．4．2 仿真条件 | 第67-68页 |
| 5．4．3 测量仪器误差仿真图形 | 第68-71页 |
| 5．5 测量仪器误差补偿方法 | 第71-73页 |
| 5．6 本章小结 | 第73-74页 |
| 结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79页 |