| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 1 绪论 | 第12-20页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第12-13页 |
| ·软开关PWM变流技术的发展 | 第13-18页 |
| ·软开关PWM变流技术的发展及研究现状 | 第13-17页 |
| ·辅助谐振换流极软开关技术的研究现状 | 第17-18页 |
| ·辅助谐振极软开关技术的应用 | 第18页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第18-20页 |
| 2 ARCP软开关拓扑的工作原理 | 第20-40页 |
| ·ARCP软开关PWM变流器主电路拓扑 | 第20页 |
| ·ARCP软开关拓扑谐振换流过程原理 | 第20-29页 |
| ·ARCP换流过程分析 | 第21-25页 |
| ·ARCP辅助换流过程分析 | 第25-27页 |
| ·电容强制换流过程分析 | 第27-29页 |
| ·基于ARCP软开关技术的单相软开关拓扑换流过程仿真 | 第29-31页 |
| ·仿真模型的建立 | 第29-30页 |
| ·仿真结果及分析 | 第30-31页 |
| ·PWM开关死区效应对ARCP软开关变流器的影响 | 第31-37页 |
| ·传统逆变器的死区效应 | 第31-34页 |
| ·ARCP软开关逆变器死区效应分析 | 第34-37页 |
| ·直流侧支撑(分压)电容的取值计算 | 第37-40页 |
| 3 ARCP-ZVT软开关变流器损耗模型与关键参数设计 | 第40-66页 |
| ·硬开关模式损耗模型 | 第40-48页 |
| ·IGBT/反并联二极管的通态损耗 | 第40-44页 |
| ·IGBT(二极管)开关损耗模型 | 第44-46页 |
| ·二极管关断损耗模型 | 第46-48页 |
| ·软开关模式损耗模型 | 第48-55页 |
| ·ARCP换流方式下的损耗计算 | 第48-53页 |
| ·ARCP辅助换流方式下的损耗计算 | 第53-54页 |
| ·吸收电容强制换流方式下的损耗计算 | 第54-55页 |
| ·控制/谐振元件参数取值原则 | 第55-66页 |
| ·谐振参数设计 | 第55-59页 |
| ·负载电流临界值I_(bound)的选择 | 第59页 |
| ·ARCP换流方式过充电电流I_(boost)选择 | 第59-64页 |
| ·ARCP辅助换流方式预充电电流I_(boca)选择 | 第64-66页 |
| 4 ARCP单相软开关实验平台 | 第66-78页 |
| ·脉冲实验平台原理设计 | 第66-70页 |
| ·硬开关双脉冲实验原理 | 第66-67页 |
| ·ARCP软开关双脉冲实验原理 | 第67页 |
| ·实验硬件和参数以及软开关实现情况 | 第67-70页 |
| ·控制系统设计 | 第70-78页 |
| ·ARCP软开关拓扑的控制系统硬件组成 | 第70-71页 |
| ·软开关变流器辅助桥臂控制策略 | 第71-76页 |
| ·PWM中断定时器程序 | 第76-78页 |
| 5 拓扑元件杂散参数和非理想特性对ARCP软开关技术的影响 | 第78-96页 |
| ·谐振电感中等效串联阻抗的影响 | 第78-82页 |
| ·母线杂散参数的影响 | 第82-86页 |
| ·中点电压偏移对软开关换流的影响 | 第86-94页 |
| ·吸收电容杂散参数对ARCP辅助换流的影响 | 第94-96页 |
| 6 逆变器单相拓扑换流损耗对比分析 | 第96-106页 |
| ·软开关损耗 | 第96-100页 |
| ·软开关各个换流过程中损耗分布对比 | 第96-97页 |
| ·软开关换流过程中各部分损耗分析 | 第97-99页 |
| ·不同软开关换流过程总损耗随实验条件的变化 | 第99-100页 |
| ·硬开关损耗 | 第100-102页 |
| ·单相逆变器开关损耗对比分析 | 第102-106页 |
| ·软/硬开关条件下开关过程损耗对比 | 第102-103页 |
| ·不同谐振参数的软开关损耗对比 | 第103-105页 |
| ·软开关换流损耗过大的原因分析及改进措施 | 第105-106页 |
| 7 全文结论与展望 | 第106-110页 |
| ·全文结论 | 第106-107页 |
| ·存在的问题与展望 | 第107-110页 |
| 参考文献 | 第110-112页 |
| 附录 | 第112-114页 |
| 作者简介 | 第114-118页 |
| 学位论文数据集 | 第118页 |
