CCD降噪技术的研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1．1 目前CCD的发展状况 | 第8-11页 |
| 1．2 研究CCD及其噪声的意义 | 第11页 |
| 1．3 本文主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第2章 CCD结构及工作原理 | 第13-31页 |
| 2．1 CCD的物理基础 | 第13-17页 |
| 2．1．1 MOS电容的热平衡态特性 | 第14-16页 |
| 2．1．2 MOS电容的非平衡态特性 | 第16-17页 |
| 2．2 CCD的组成及其工作原理 | 第17-21页 |
| 2．2．1 CCD的组成 | 第17-21页 |
| 2．2．2 电荷转移沟道 | 第21页 |
| 2．3 CCD的分类 | 第21-30页 |
| 2．3．1 按光谱分类 | 第22-26页 |
| 2．3．2 按结构分类 | 第26-30页 |
| 2．4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 电荷耦合器件的噪声 | 第31-43页 |
| 3．1 输入噪声 | 第31-33页 |
| 3．1．1 电注入噪声 | 第31-33页 |
| 3．1．2 光注入噪声 | 第33页 |
| 3．2 转移噪声 | 第33-36页 |
| 3．3 输出噪声 | 第36-40页 |
| 3．3．1 浮置扩散放大器的输出噪声 | 第36-38页 |
| 3．3．2 浮置栅放大器的输出噪声 | 第38-40页 |
| 3．4 CCD的工作频率 | 第40-41页 |
| 3．5 抑制噪声所采用的一般方法 | 第41-42页 |
| 3．6 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于CDS的采样理论与实现方法 | 第43-63页 |
| 4．1 CCD噪声相关性的理论分析 | 第43-49页 |
| 4．1．1 定量研究相关性的意义 | 第43-44页 |
| 4．1．2 复位管的工作过程 | 第44页 |
| 4．1．3 复位管导通时的热噪声及其相关性 | 第44-47页 |
| 4．1．4 复位管截止期间的热噪声及其相关性 | 第47-49页 |
| 4．2 相关双采样的几种实现方法 | 第49-58页 |
| 4．2．1 微分采样法 | 第49-52页 |
| 4．2．2 反射延迟法 | 第52-57页 |
| 4．2．3 相关四采样 | 第57-58页 |
| 4．3 相关双采样电路的实现 | 第58-62页 |
| 4．3．1 CCD芯片简介 | 第58页 |
| 4．3．2 LF398采样/保持器的等效电路 | 第58-59页 |
| 4．3．3 保持电容的确定 | 第59-60页 |
| 4．3．4 实际电路的连接 | 第60-62页 |
| 4．4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第5章 基于可交换带通滤波器的CDS新方法 | 第63-79页 |
| 5．1 基于可交换带通滤波器的CDS方法简介 | 第63-64页 |
| 5．2 采样方法的实现 | 第64-67页 |
| 5．3 噪声分析 | 第67-74页 |
| 5．3．1 白噪声分析 | 第70-71页 |
| 5．3．2 1/fx噪声分析 | 第71-74页 |
| 5．4 仿真实验 | 第74-78页 |
| 5．4．1 白噪声仿真结果 | 第74-76页 |
| 5．4．2 1/fx噪声仿真结果 | 第76-78页 |
| 5．5 本章小结 | 第78-79页 |
| 结论 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 作者简介 | 第86页 |
