一种软X射线/极紫外波段辐射标定方法研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 图表索引 | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 第一节 光电探测器概述 | 第10-14页 |
| ·气体电离探测器 | 第10-11页 |
| ·半导体探测器 | 第11-12页 |
| ·闪烁计数器光电倍增管 | 第12-13页 |
| ·光电倍增管和半导体光敏探测器的比较 | 第13-14页 |
| 第二节 利用Si光电二极管进行标定的方法 | 第14-15页 |
| 第二章 软X射线／极紫外辐射标定的有关理论及原理 | 第15-31页 |
| 第一节 光谱辐射测量原理 | 第15-17页 |
| 第二节 探测器的绝对标准 | 第17-22页 |
| ·电离室结构 | 第17-18页 |
| ·电离室工作原理 | 第18-22页 |
| 第三节 绝对标准光源同步辐射 | 第22-25页 |
| ·同步辐射的产生机制及其特性 | 第22-23页 |
| ·同步辐射装置及其缺陷 | 第23-25页 |
| 第四节 Si光电二极管辐射标定 | 第25-31页 |
| ·Si光电二极管 | 第25-26页 |
| ·Si光二极管传递标准探测器工作特性 | 第26-28页 |
| ·Si光电二极管的标定 | 第28-31页 |
| 第三章 测量系统及实验 | 第31-50页 |
| 第一节 测量系统的建立 | 第31-44页 |
| ·光源系统 | 第32-34页 |
| ·单色仪系统 | 第34-42页 |
| ·光电信号探测系统 | 第42-43页 |
| ·数据采集系统 | 第43-44页 |
| ·真空系统 | 第44页 |
| 第二节 测量系统的改进 | 第44-47页 |
| ·LabVIEW语言简介 | 第44-45页 |
| ·虚拟数据采集器的开发 | 第45-47页 |
| 第三节 使用改进系统测量多层膜反射率 | 第47-50页 |
| 第四章 标定实验及结果分析 | 第50-56页 |
| 第一节 测量系统标定 | 第50-53页 |
| ·电子倍增器标定 | 第50-51页 |
| ·单色仪标定 | 第51-53页 |
| 第二节 系统效率和光源的绝对光谱 | 第53-55页 |
| 第三节 总结及展望 | 第55-56页 |
| ·总结 | 第55页 |
| ·展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 作者简介 | 第60-61页 |
