| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-28页 |
| ·铁电晶体及其结构 | 第10-14页 |
| ·铁电晶体与铁电畴 | 第10页 |
| ·电滞回线 | 第10-12页 |
| ·铁电晶体的结构 | 第12-14页 |
| ·铁电存储器的研究进展及可靠性 | 第14-19页 |
| ·铁电存储器的原理与优点 | 第14页 |
| ·铁电存储器的研究进展 | 第14-16页 |
| ·铁电存储器的可靠性问题 | 第16-19页 |
| ·现有材料的优缺点以及改进方法 | 第19-21页 |
| ·现有材料的优缺点 | 第19-20页 |
| ·提高材料性能的方法 | 第20-21页 |
| ·本论文工作的目的、意义和内容 | 第21-28页 |
| 第二章 样品制备及性能测试 | 第28-35页 |
| ·样品制备 | 第28-29页 |
| ·利用体材料进行性能研究的优点 | 第28页 |
| ·固相烧结工艺 | 第28-29页 |
| ·微结构测量 | 第29-31页 |
| ·X射线与布拉格方程 | 第29-30页 |
| ·X射线物相分析 | 第30-31页 |
| ·X射线微观结构测量 | 第31页 |
| ·Sawyer-Tower电路与铁电性能测量 | 第31-32页 |
| ·Sawyer-Tower电路 | 第31-32页 |
| ·铁电性能测量 | 第32页 |
| ·介电性能测量与居里温度的确定 | 第32-35页 |
| ·居里-外斯定律 | 第32-33页 |
| ·居里温度的确定 | 第33-35页 |
| 第三章 Bi含量对SrBi_4Ti_4O_(15)铁电材料性能的影响 | 第35-45页 |
| ·引言 | 第35-36页 |
| ·样品制备及性能测试方法 | 第36-37页 |
| ·样品制备 | 第36-37页 |
| ·结构及性能测试 | 第37页 |
| ·测试结果与讨论 | 第37-41页 |
| ·微观结构 | 第37-39页 |
| ·铁电性能 | 第39-40页 |
| ·介电性能 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-45页 |
| 第四章 La掺杂SrBi_4Ti_4O_(15)铁电材料性能研究 | 第45-60页 |
| ·引言 | 第45-47页 |
| ·镧系元素掺杂Bi_4Ti_3O_(12)材料的研究现状 | 第45-46页 |
| ·作RAMs用的SrBi_4Ti_4O_(15)性能缺点及改进 | 第46-47页 |
| ·样品制备及性能测试方法 | 第47页 |
| ·测试结果及分析 | 第47-56页 |
| ·SBLT-x材料的微观结构 | 第47-48页 |
| ·铁电性能及2P_r变化机理 | 第48-52页 |
| ·二级相变的判定 | 第52-54页 |
| ·介电性能及居里温度 | 第54页 |
| ·SBLT-0.75与SBLT-1.00的弛豫特性 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-60页 |
| 第五章 Bi_(4-x)La_xTi_3O_(12)-SrBi_(4-y)La_yTi_4O_(15)共生结构性能及镧分布研究 | 第60-76页 |
| ·引言 | 第60-64页 |
| ·材料制备和性能测试 | 第64页 |
| ·结构分析与性能测试 | 第64-71页 |
| ·BLT-SBLT(x+y)的X射线测试和分析 | 第64-66页 |
| ·铁电性能 | 第66-68页 |
| ·矫顽场与X射线谱的某些峰移动方向的关系 | 第68-69页 |
| ·居里温度 | 第69-71页 |
| ·BLT-SBLT(1.50)的弛豫性能 | 第71页 |
| ·La分布计算 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-76页 |
| 第六章 钒掺杂对SrBi_4Ti_4O_(15)性能的影响 | 第76-84页 |
| ·引言 | 第76页 |
| ·材料制备与性能测试方法 | 第76-77页 |
| ·结构性能测试结果与分析 | 第77-82页 |
| ·X射线微观结构分析 | 第77-78页 |
| ·漏电流密度 | 第78-79页 |
| ·铁电性能 | 第79-81页 |
| ·介电性能 | 第81-82页 |
| ·本章小结 | 第82-84页 |
| 第七章 工作总结及今后要点 | 第84-87页 |
| ·工作总结 | 第84-85页 |
| ·今后工作要点 | 第85-87页 |
| 研究生期间已发表和待发表的论文 | 第87-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
