电子产品ADT及其参数漂移的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·研究意义 | 第9页 |
| ·研究现状与进展 | 第9-10页 |
| ·研究内容与方法 | 第10-11页 |
| ·研究内容 | 第10-11页 |
| ·研究方法 | 第11页 |
| ·主要创新 | 第11-12页 |
| 第2章 可靠性理论基础 | 第12-20页 |
| ·可靠性基本概念 | 第12-14页 |
| ·常用连续型失效分布 | 第14-16页 |
| ·加速寿命试验 | 第16-19页 |
| ·寿命试验中的常用点估计 | 第19-20页 |
| 第3章 退化失效模型及参数漂移 | 第20-37页 |
| ·退化失效模型 | 第20-29页 |
| ·性能退化数据的统计模型 | 第29-37页 |
| 第4章 加速退化失效模型及加速参数漂移 | 第37-57页 |
| ·电子产品的加速退化试验 | 第37-38页 |
| ·加速退化试验 | 第38-42页 |
| ·加速退化因子与加速退化方程 | 第42-46页 |
| ·加速退化失效模型 | 第46-51页 |
| ·加速退化数据统计模型 | 第51-57页 |
| 第5章 ADT计算机仿真 | 第57-63页 |
| ·基于最小二乘的GAUSS退化仿真 | 第57-60页 |
| ·基于首达时间的加速退化仿真 | 第60-63页 |
| 第6章 加速寿命试验与加速退化试验比较 | 第63-65页 |
| 第7章 结论与展望 | 第65-67页 |
| ·结论 | 第65页 |
| ·展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 附录 | 第72-74页 |
| 附录一 发表论文及参与科研课题、学术交流会 | 第72-73页 |
| 附录二 缩略词对照 | 第73-74页 |
