| 中文摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 引言 | 第8-9页 |
| 第一章 北京正负电子对撞机和北京谱仪 | 第9-16页 |
| ·北京正负电子对撞机 | 第9-11页 |
| ·BESIII探测器 | 第11-16页 |
| ·主漂移室(MDC) | 第13页 |
| ·飞行时间计数器(TOF) | 第13-14页 |
| ·电磁量能器(EMC) | 第14页 |
| ·μ子鉴别器 | 第14-16页 |
| 第二章 BESIII CsI(TI)晶体电磁量能器以及晶体的测量 | 第16-30页 |
| ·BESIII电磁量能器概述 | 第16页 |
| ·电磁量能器晶体尺寸的测量 | 第16-17页 |
| ·晶体的光产额与均匀性的测量 | 第17-23页 |
| ·校准百分表 | 第19页 |
| ·读入晶体资料 | 第19-20页 |
| ·读入晶体数据并分析 | 第20-21页 |
| ·输出并存贮结果 | 第21-23页 |
| ·晶体的光产额与均匀性的测量 | 第23-30页 |
| ·晶体相对光输出及相对光输出均匀性的检测 | 第23-26页 |
| ·测量的具体步骤 | 第26-27页 |
| ·晶体的相对光输出与均匀性的测量结果 | 第27-30页 |
| 第三章 标准模型和D介子物理简介 | 第30-38页 |
| ·标准模型理论 | 第31-33页 |
| ·D介子物理 | 第33-38页 |
| ·D介子的发现 | 第34页 |
| ·D介子的产生 | 第34页 |
| ·D介子的衰变 | 第34-38页 |
| ·纯轻子衰变 | 第35-36页 |
| ·半轻子衰变 | 第36-37页 |
| ·非轻子衰变 | 第37-38页 |
| 第四章 D→(?)ππ的Dalitz图分析 | 第38-67页 |
| ·带电粒子的选择 | 第38页 |
| ·K_s~0的选择和鉴别 | 第38-42页 |
| ·K_s~0衰变次级顶点的重建 | 第39页 |
| ·K_s~0的衰变产物π~±的选择和鉴别 | 第39-40页 |
| ·K_s~0的选择条件 | 第40-42页 |
| ·光子的选择与鉴别 | 第42页 |
| ·Dalitz图分析的事例选择 | 第42-46页 |
| ·Dalitz图分析的方法与工具 | 第46-55页 |
| ·两体衰变矩阵元的螺旋度振幅形式简介 | 第47-49页 |
| ·振幅公式 | 第49-51页 |
| ·最大似然函数的构造 | 第51-52页 |
| ·D→(?)ππ衰变振幅与似然函数的构造 | 第52-55页 |
| ·D→(?)ππ的Dalitz图分析 | 第55-64页 |
| ·本底的参数化处理 | 第56-59页 |
| ·D→(?)ππ的拟和结果 | 第59-64页 |
| ·测量中的误差处理 | 第64-67页 |
| ·统计误差 | 第64-66页 |
| ·信号的统计误差处理 | 第64-66页 |
| ·背景的统计误差处理 | 第66页 |
| ·系统误差 | 第66-67页 |
| 第五章 总结与展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 发表文章目录 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |