基于超振荡现象的宽带远场超分辨成像方法研究
| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 衍射极限 | 第9-10页 |
| 1.2 超分辨成像技术 | 第10-13页 |
| 1.2.1 扫描近场光学显微镜(SNOM) | 第10-11页 |
| 1.2.2 超分辨荧光成像技术 | 第11-13页 |
| 1.3 超振荡现象的研究现状 | 第13-19页 |
| 1.3.1 超振荡现象的提出 | 第13-16页 |
| 1.3.2 超振荡现象的应用 | 第16-19页 |
| 1.4 本文的研究目标 | 第19页 |
| 1.5 本文的主要研究内容及章节安排 | 第19-21页 |
| 2 远场宽带超振荡成像理论基础 | 第21-36页 |
| 2.1 宽带超振荡成像原理 | 第21-22页 |
| 2.2 超振荡器件的设计 | 第22-27页 |
| 2.3 MF与传统光瞳滤波器的比较 | 第27-29页 |
| 2.4 宽带超振荡成像仿真分析 | 第29-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 3 扩展目标宽带超振荡成像仿真分析 | 第36-49页 |
| 3.1 小孔扫描成像 | 第36-40页 |
| 3.2 扩展目标超临界成像 | 第40-47页 |
| 3.2.1 超临界器件的设计 | 第41-43页 |
| 3.2.2 超临界器件的成像仿真 | 第43-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-49页 |
| 4 非标准平面波入射对超振荡器件的影响分析 | 第49-56页 |
| 4.1 像差理论基础 | 第49-50页 |
| 4.2 超振荡器件和超临界器件的像差分析 | 第50-54页 |
| 4.2.1 像差分析模型 | 第50-51页 |
| 4.2.2 像差仿真分析 | 第51-54页 |
| 4.3 本章小结 | 第54-56页 |
| 5 白光超振荡成像 | 第56-64页 |
| 5.1 超表面结构的设计 | 第56-58页 |
| 5.1.1 超表面结构的单元结构仿真设计 | 第56-57页 |
| 5.1.2 超表面结构的实验加工 | 第57-58页 |
| 5.2 实验光路设计 | 第58-59页 |
| 5.3 超振荡器件MF的超振荡望远成像 | 第59-63页 |
| 5.3.1 点扩散函数及小孔成像的实验验证 | 第59-61页 |
| 5.3.2 MF超分辨能力的验证 | 第61-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 6 总结与展望 | 第64-66页 |
| 6.1 主要工作内容 | 第64-65页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
