叠层绕线元器件测试平台上位机系统的设计与实现
摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-15页 |
1.1 选题背景 | 第11-13页 |
1.1.1 概述 | 第11页 |
1.1.2 国内外电子元器件自动化测试现状 | 第11-13页 |
1.1.3 课题的目的和意义 | 第13页 |
1.2 研究目标和主要研究内容 | 第13-14页 |
1.3 本论文结构安排 | 第14-15页 |
第二章 系统的关键技术介绍 | 第15-23页 |
2.1 技术路线 | 第15页 |
2.2 关键技术 | 第15-17页 |
2.2.1 串口及PLC通讯 | 第15-16页 |
2.2.2 C/S架构 | 第16-17页 |
2.2.3 数据库理论 | 第17页 |
2.3 致茂TC_19301A简介 | 第17-20页 |
2.4 数据流(DATA STREAM) | 第20-21页 |
2.5 多线程(MULTI THREADING) | 第21-22页 |
2.6 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 系统的需求分析 | 第23-36页 |
3.1 功能性需求分析 | 第23-32页 |
3.1.1 实现目标 | 第23-24页 |
3.1.2 功能模块需求分析 | 第24-28页 |
3.1.3 功能模块关系分析 | 第28-29页 |
3.1.4 数据流分析 | 第29-30页 |
3.1.5 业务流程需求 | 第30-32页 |
3.2 非功能性需求分析 | 第32-34页 |
3.2.1 软件实施环境需求 | 第32-33页 |
3.2.2 网络实施环境需求 | 第33页 |
3.2.3 硬件实施环境需求 | 第33-34页 |
3.2.4 易用性需求 | 第34页 |
3.2.5 接口需求 | 第34页 |
3.2.6 稳定性需求 | 第34页 |
3.3 可行性需求分析 | 第34-35页 |
3.3.1 系统实施具体的基础条件 | 第34-35页 |
3.3.2 数据存储需求分析 | 第35页 |
3.4 本章小结 | 第35-36页 |
第四章 系统的设计 | 第36-54页 |
4.1 系统架构设计 | 第36-38页 |
4.2 接口设计 | 第38-40页 |
4.2.1 用户界面设计 | 第38-39页 |
4.2.2 软件接口设计 | 第39页 |
4.2.3 硬件接口设计 | 第39-40页 |
4.3 运行设计 | 第40-45页 |
4.3.1 上位机模块组合设计 | 第40-41页 |
4.3.2 上位机运行控制 | 第41-44页 |
4.3.3 上位机运行时间要求 | 第44页 |
4.3.4 远端查询运行时间要求 | 第44-45页 |
4.4 数据存储设计 | 第45-53页 |
4.4.1 数据流存储设计 | 第45-46页 |
4.4.2 SQL结构化数据设计 | 第46-53页 |
4.5 报警处理设计 | 第53页 |
4.6 本章小结 | 第53-54页 |
第五章 系统实现 | 第54-69页 |
5.1 上位机模块的程序实现 | 第54-65页 |
5.1.1 上位机主界面及关键代码 | 第54-57页 |
5.1.2 参数设置实现 | 第57-58页 |
5.1.3 正式测试实现 | 第58-63页 |
5.1.4 测试数据上传实现 | 第63-64页 |
5.1.5 报警处理的实现 | 第64-65页 |
5.2 远端查询模块的程序实现 | 第65-68页 |
5.2.1 用户登录 | 第65-66页 |
5.2.2 测试数据报表 | 第66-68页 |
5.3 本章小结 | 第68-69页 |
第六章 系统的测试 | 第69-73页 |
6.1 测试目的 | 第69页 |
6.2 测试方案 | 第69-72页 |
6.3 本章小节 | 第72-73页 |
第七章 总结与展望 | 第73-74页 |
7.1 总结 | 第73页 |
7.2 展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-76页 |