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基于相变存储器的双向数字运算结构及算法研究

摘要第3-4页
Abstract第4-5页
1 绪论第8-17页
    1.1 相变存储器简介第8-9页
    1.2 相变存储器原理第9-11页
    1.3 多值存储技术第11-13页
    1.4 电阻漂移现象及双向剪裁第13-14页
    1.5 相变存储计算单元的研究背景第14-15页
    1.6 本文的研究目的和内容安排第15-17页
2 相变存储器单元模型第17-30页
    2.1 相变存储器建模的演变第17-18页
    2.2 HSPICE物理模型第18-22页
    2.3 电路行为模型第22-24页
    2.4 等效性分析第24-27页
    2.5 参数修正第27-29页
    2.6 本章小结第29-30页
3 基于相变存储器单元的逻辑运算第30-41页
    3.1 基础结构及外部电路设计第30-31页
    3.2 二值逻辑运算第31-37页
        3.2.1 二值逻辑运算流程第33页
        3.2.2 二值逻辑运算算法第33-36页
        3.2.3 双向剪裁实验及验证第36-37页
    3.3 多输入逻辑运算第37-39页
        3.3.1 带进位位的逻辑运算第38页
        3.3.2 三输入逻辑运算第38-39页
    3.4 本章小结第39-41页
4 基于相变存储器的算术运算第41-48页
    4.1 基本结构及外部电路设计第41-42页
    4.2 简单十进制算术运算第42-44页
    4.3 n位十进制算术运算第44-46页
    4.4 本章小结第46-48页
5 总结与展望第48-50页
    5.1 总结第48-49页
    5.2 展望第49-50页
参考文献第50-54页

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