GM-APD阵列探测器读出电路设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第9-15页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第9-14页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 主要研究内容和设计指标 | 第15-16页 |
| 1.3.1 主要研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第16页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 单光子激光测距系统工作原理 | 第17-22页 |
| 2.1 单光子激光测距系统工作原理 | 第17-18页 |
| 2.2 常用单光子探测器 | 第18-21页 |
| 2.2.1 光电倍增管 | 第18-19页 |
| 2.2.2 电耦合器件 | 第19-20页 |
| 2.2.3 雪崩光电二极管 | 第20-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 GM-APD阵列探测器读出电路系统 | 第22-32页 |
| 3.1 雪崩光电二极管(APD) | 第22-25页 |
| 3.1.1 APD工作原理 | 第22-23页 |
| 3.1.2 APD分类 | 第23-24页 |
| 3.1.3 APD性能指标 | 第24-25页 |
| 3.2 雪崩光电二极管淬灭方法 | 第25-27页 |
| 3.2.1 被动淬灭方式 | 第26页 |
| 3.2.2 主动淬灭方式 | 第26-27页 |
| 3.2.3 门控淬灭方式 | 第27页 |
| 3.3 时间数字转换电路 | 第27-30页 |
| 3.3.1 直接计数法 | 第28页 |
| 3.3.2 游标卡尺法 | 第28-29页 |
| 3.3.3 抽头延迟法 | 第29-30页 |
| 3.4 温度控制 | 第30-31页 |
| 3.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 读出电路系统设计 | 第32-43页 |
| 4.1 读出电路系统架构与时序设计 | 第32-35页 |
| 4.1.1 读出电路系统架构设计 | 第32-34页 |
| 4.1.2 读出电路系统工作时序 | 第34-35页 |
| 4.2 淬灭电路设计 | 第35-38页 |
| 4.2.1 主被动混合淬灭电路 | 第35-36页 |
| 4.2.2 前置放大电路 | 第36-37页 |
| 4.2.3 甄别电路 | 第37-38页 |
| 4.3 时间数字转换电路 | 第38-42页 |
| 4.3.1 TDC系统结构方案设计 | 第38页 |
| 4.3.2 “粗”计时电路 | 第38-40页 |
| 4.3.3 “细”计时电路 | 第40-42页 |
| 4.4 温度控制模块 | 第42页 |
| 4.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 读出电路系统仿真与分析 | 第43-50页 |
| 5.1 电路仿真分析 | 第43-45页 |
| 5.1.1 建立APD电学模型 | 第43-44页 |
| 5.1.2 电路仿真 | 第44-45页 |
| 5.2 仿真结果与数据分析 | 第45-49页 |
| 5.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第六章 总结与展望 | 第50-52页 |
| 6.1 总结 | 第50页 |
| 6.2 展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 在学期间所取得的科研成果 | 第54-55页 |
| 1、作者简介 | 第54页 |
| 2、发表论文 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
