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组合电器局部放电特征提取与放电严重程度评估方法研究

中文摘要第3-4页
英文摘要第4-5页
1 绪论第9-23页
    1.1 GIS局部放电监测及其严重程度评估的意义第9-11页
    1.2 GIS局部放电信号检测技术第11-13页
    1.3 GIS局部放电类型辨识特征提取方法的研究现状第13-17页
        1.3.1 基于TRPD波形分析的特征参数第13-15页
        1.3.2 基于PRPD统计谱图的特征参数第15-17页
    1.4 GIS局部放电严重程度评估的研究现状第17-20页
        1.4.1 局部放电发展过程研究及特征信息提取第17-19页
        1.4.2 局部放电严重程度的划分第19页
        1.4.3 局部放电严重程度评估模型第19-20页
    1.5 主要研究内容及技术路线第20-23页
2 特高频局部放电试验研究第23-31页
    2.1 典型缺陷人工物理模型第23-25页
    2.2 试验系统和试验方法第25-28页
        2.2.1 试验系统第25-26页
        2.2.2 试验方法第26-28页
    2.3 试验数据预处理及分析第28-30页
        2.3.1 TRPD分析模式数据第28-29页
        2.3.2 PRPD分析模式数据第29-30页
    2.4 本章小结第30-31页
3 典型缺陷局部放电辨识特征参数提取第31-43页
    3.1 二元树复小波变换-奇异值分解第31-34页
        3.1.1 二元树复小波变换第32页
        3.1.2 奇异值分解第32-34页
    3.2 多尺度特征参数提取第34-37页
        3.2.1 小波复合系数构造第34页
        3.2.2 Hankel矩阵的构造第34-35页
        3.2.3 最优二元树复小波分解层数求解第35-36页
        3.2.4 最优尺度下特征向量构建第36-37页
    3.3 特征有效性分析第37-39页
    3.4 缺陷类型辨识第39-40页
    3.5 本章小结第40-43页
4 局部放电发展过程特征参数提取第43-61页
    4.1 放电发展过程谱图分析第43-47页
        4.1.1 突出物缺陷局部放电发展过程第43-44页
        4.1.2 自由金属微粒缺陷局部放电发展过程第44-45页
        4.1.3 金属污秽缺陷局部放电发展过程第45-46页
        4.1.4 绝缘子气隙缺陷局部放电发展过程第46-47页
    4.2 放电发展过程特征参数提取第47-48页
    4.3 局部放电发展特征参数趋势分析第48-60页
        4.3.1 突出物缺陷第48-52页
        4.3.2 自由金属微粒缺陷第52-55页
        4.3.3 金属污秽缺陷第55-57页
        4.3.4 绝缘子气隙缺陷第57-60页
    4.4 本章小结第60-61页
5 基于模糊综合评判的局部放电严重程度评估第61-73页
    5.1 模糊综合评判基本理论第61-63页
        5.1.1 模糊集合第61-62页
        5.1.2 隶属度函数第62页
        5.1.3 模糊综合评判步骤第62-63页
    5.2 放电发展阶段的划分第63-66页
        5.2.1 状态等级的定义第63页
        5.2.2 模糊C均值聚类分析第63-64页
        5.2.3 状态中心的求解第64-66页
    5.3 模糊综合评判模型构建第66-72页
        5.3.1 模糊评判矩阵求解第66-67页
        5.3.2 基于离差最大化的自适应客观权值计算第67页
        5.3.3 两级模糊评判模型第67-68页
        5.3.4 两级模糊综合评估模型测试第68-69页
        5.3.5 实例分析第69-72页
    5.4 本章小结第72-73页
6 结论与展望第73-75页
    6.1 主要结论第73-74页
    6.2 研究工作展望第74-75页
致谢第75-77页
参考文献第77-83页
附录第83页
    A. 作者在读期间发表的学术论文第83页
    B. 作者在读期间参与的科研课题第83页

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