液晶基波前成像方法研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 1 绪论 | 第11-28页 |
| 1.1 引言 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外相关技术发展现状 | 第13-25页 |
| 1.3 本论文的主要研究工作 | 第25-26页 |
| 1.4 本论文的研究内容安排 | 第26-28页 |
| 2 电控液晶微透镜阵列 | 第28-44页 |
| 2.1 引言 | 第28-29页 |
| 2.2 液晶的双折射性质及连续弹性理论 | 第29-31页 |
| 2.3 指向矢计算及功能化仿真 | 第31-35页 |
| 2.4 液晶器件典型工艺特征 | 第35-37页 |
| 2.5 液晶微透镜阵列的主要光学参数测量 | 第37-42页 |
| 2.6 本章小结 | 第42-44页 |
| 3 液晶基波前成像方法 | 第44-67页 |
| 3.1 引言 | 第44-46页 |
| 3.2 测量局部子波前还原目标整体波前方法 | 第46-48页 |
| 3.3 基于波前测量的液晶微透镜器件 | 第48-52页 |
| 3.4 目标波前成像的分解及混合 | 第52-64页 |
| 3.5 液晶基波前成像 | 第64-66页 |
| 3.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 4 液晶基波前成像景深扩展 | 第67-97页 |
| 4.1 引言 | 第67-69页 |
| 4.2 波前成像系统的成像模糊问题 | 第69-70页 |
| 4.3 液晶基波前成像系统景深扩展 | 第70-72页 |
| 4.4 针对波前成像景深特征的成像系统景深计算 | 第72-74页 |
| 4.5 电控液晶微透镜对波前成像系统景深的扩展 | 第74-95页 |
| 4.6 本章小结 | 第95-97页 |
| 5 液晶基波前成像物空间深度测量 | 第97-120页 |
| 5.1 引言 | 第97-98页 |
| 5.2 波前成像系统的深度不敏感性 | 第98-99页 |
| 5.3 物空间深度测量的液晶微透镜阵列 | 第99-102页 |
| 5.4 液晶基波前成像系统的物空间深度测量方法 | 第102-105页 |
| 5.5 物空间深度标定与评估 | 第105-118页 |
| 5.6 本章小结 | 第118-120页 |
| 6 全文总结与工作展望 | 第120-124页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第120-121页 |
| 6.2 本文创新点 | 第121-122页 |
| 6.3 下一步工作展望 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124-126页 |
| 参考文献 | 第126-138页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表的主要论文 | 第138-140页 |
| 附录2 攻读博士学位期间发表的专利 | 第140-141页 |
| 附录3 博士生期间参与的课题研究情况 | 第141-142页 |
| 附录4 公开发表的学术论文与博士学位论文的关系 | 第142页 |
