| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-23页 |
| 1.1 微波介质陶瓷概述 | 第8-10页 |
| 1.1.1 微波介质陶瓷发展 | 第8-9页 |
| 1.1.2 低介电常数微波介质陶瓷 | 第9-10页 |
| 1.2 硅酸盐系微波介质陶瓷 | 第10-15页 |
| 1.2.1 镁橄榄石 | 第10-12页 |
| 1.2.2 硅灰石 | 第12-13页 |
| 1.2.3 Zn_2Si0_4 | 第13-15页 |
| 1.2.4 其它低介微波介质陶瓷体系 | 第15页 |
| 1.3 低介微波介质陶瓷的性能参数 | 第15-20页 |
| 1.3.1 介电常数 | 第16-17页 |
| 1.3.2 品质因数 | 第17-19页 |
| 1.3.3 谐振频率温度系数 | 第19-20页 |
| 1.4 微波介质陶瓷显微结构对性能的影响 | 第20-21页 |
| 1.5 低介微波介质陶瓷存在的问题 | 第21-22页 |
| 1.6 课题的研究背景及意义 | 第22-23页 |
| 第二章 实验过程与测试方法 | 第23-28页 |
| 2.1 原料 | 第23页 |
| 2.2 实验过程 | 第23-26页 |
| 2.2.1 工艺流程 | 第23-25页 |
| 2.2.2 实验设备 | 第25-26页 |
| 2.3 性能测试 | 第26-28页 |
| 2.3.1 测试密度 | 第26页 |
| 2.3.2 测试收缩率 | 第26页 |
| 2.3.3 微波介电性能测试 | 第26-27页 |
| 2.3.4 X射线衍射分析（XRD） | 第27页 |
| 2.3.5 扫描电子显微镜分析（SEM） | 第27-28页 |
| 第三章 Mg_2Si0_4微波介质陶瓷性能研究 | 第28-44页 |
| 3.1 引言 | 第28-29页 |
| 3.2 实验配方与样品制备 | 第29页 |
| 3.3 ZnO掺杂对Mg_2Si0_4陶瓷介电性能的影响 | 第29-36页 |
| 3.3.1 烧结性能 | 第29-31页 |
| 3.3.2 相组成与显微结构分析 | 第31-33页 |
| 3.3.3 介电性能 | 第33-36页 |
| 3.4 C0_30_4掺杂对Mg_2Si0_4陶瓷介电性能的影响 | 第36-43页 |
| 3.4.1 烧结性能 | 第36-38页 |
| 3.4.2 相分析与显微结构 | 第38-41页 |
| 3.4.3 介电性能 | 第41-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 yMg_2Si0_4-(1-y)CaSi0_3系微波介质陶瓷性能研究 | 第44-63页 |
| 4.1 引言 | 第44页 |
| 4.2 实验配方与样品制备 | 第44-46页 |
| 4.3 Mg_2Si0_4粉体制备 | 第46-47页 |
| 4.4 CaSi0_3粉体制备 | 第47-49页 |
| 4.5 yMg_2Si0_4-(1-y)CaSi0_3介质陶瓷的性能研究 | 第49-55页 |
| 4.5.1 烧结特性 | 第49-50页 |
| 4.5.2 相组成与显微结构分析 | 第50-53页 |
| 4.5.3 介电性能 | 第53-55页 |
| 4.6 烧结助剂对于yMg_2Si0_4-(1-y)CaSi0_3系陶瓷微波介电性能的影响. | 第55-62页 |
| 4.6.1 烧结性能 | 第56-57页 |
| 4.6.2 相组成与显微结构分析 | 第57-60页 |
| 4.6.3 介电性能 | 第60-62页 |
| 4.7 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 全文总结 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
