低稀释比多硼酸锂熔融制片-XRF法测试化探样品中24种元素的研究与应用
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 化探分析 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.2.1 XRF 技术简介 | 第8-9页 |
| 1.2.2 XRF 技术发展和现状 | 第9-10页 |
| 1.2.3 XRF 分析与其它分析方法的比较 | 第10页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第10-11页 |
| 1.4 本文的研究意义 | 第11-12页 |
| 第2章 实验部分 | 第12-24页 |
| 2.1 实验原理 | 第12-14页 |
| 2.1.1 X 射线的产生 | 第12页 |
| 2.1.2 X 射线荧光定性分析 | 第12-13页 |
| 2.1.3 X 射线荧光定量分析 | 第13-14页 |
| 2.2 实验仪器设备及主要试剂 | 第14页 |
| 2.2.1 实验仪器设备 | 第14页 |
| 2.2.2 主要试剂 | 第14页 |
| 2.3 实验内容 | 第14-24页 |
| 2.3.1 熔融制样 | 第14-15页 |
| 2.3.2 样片的制备 | 第15页 |
| 2.3.3 校准曲线 | 第15-19页 |
| 2.3.4 仪器参数的选择和测量条件的选择 | 第19-20页 |
| 2.3.5 X 射线荧光光谱法校正 | 第20-24页 |
| 第3章 结果分析及讨论 | 第24-37页 |
| 3.1 低稀释比制样技术研究 | 第24-31页 |
| 3.1.1 样品的制备 | 第24页 |
| 3.1.2 熔剂的选择 | 第24-25页 |
| 3.1.3 稀释比的确定实验 | 第25-27页 |
| 3.1.4 筛选脱模剂和用量选择 | 第27-29页 |
| 3.1.5 氧化剂的选择 | 第29页 |
| 3.1.6 熔融时间的选择 | 第29-30页 |
| 3.1.7 熔样温度的选择 | 第30-31页 |
| 3.2 方法准确度和精密度 | 第31-37页 |
| 3.2.1 精密度 | 第32页 |
| 3.2.2 准确度 | 第32-37页 |
| 第4章 结论 | 第37-38页 |
| 参考文献 | 第38-41页 |
| 致谢 | 第41页 |
