| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第16-27页 |
| 1.1 NTC热敏电阻概述 | 第16-21页 |
| 1.1.1 NTC热敏电阻 | 第16页 |
| 1.1.2 NTC热敏电阻的发展历程及使用 | 第16-18页 |
| 1.1.3 NTC热敏电阻的四类参数 | 第18-19页 |
| 1.1.4 NTC热敏陶瓷的材料结构 | 第19-21页 |
| 1.2 NTC热敏电阻材料的导电机理 | 第21-22页 |
| 1.2.1 影响阳离子分布规律的因素 | 第21页 |
| 1.2.2 导电机理 | 第21-22页 |
| 1.3 老化机理 | 第22-23页 |
| 1.4 NTC热敏电阻材料的工艺流程 | 第23-26页 |
| 1.4.1 粉体制备 | 第23-24页 |
| 1.4.2 造粒 | 第24页 |
| 1.4.3 成型 | 第24页 |
| 1.4.4 烧结 | 第24-25页 |
| 1.4.5 电极制备 | 第25页 |
| 1.4.6 阻值调整 | 第25页 |
| 1.4.7 敏化与老化 | 第25-26页 |
| 1.5 本文的研究思路 | 第26-27页 |
| 第二章 实验部分 | 第27-33页 |
| 2.1 实验仪器与实验原料 | 第27-28页 |
| 2.1.1 实验原料 | 第27页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第27-28页 |
| 2.2 实验步骤 | 第28-29页 |
| 2.3 样品测试 | 第29-33页 |
| 2.3.1 表观密度 | 第30页 |
| 2.3.2 电学性能 | 第30页 |
| 2.3.3 老化性能 | 第30-31页 |
| 2.3.4 X-射线粉末衍射(XRD) | 第31页 |
| 2.3.5 扫描电子显微镜(SEM) | 第31页 |
| 2.3.6 能谱分析(简称EDS) | 第31-33页 |
| 第三章 Mn-Ni-Sn-O系NTC热敏电阻的电学性能研究 | 第33-42页 |
| 3.1 实验内容 | 第33-35页 |
| 3.1.1 样品制备过程 | 第33-34页 |
| 3.1.2 样品测试 | 第34-35页 |
| 3.2 实验结果与讨论 | 第35-39页 |
| 3.2.1 样品相组成 | 第35-39页 |
| 3.2.2 样品微结构 | 第39页 |
| 3.3 电学性能 | 第39-41页 |
| 3.4 结论 | 第41-42页 |
| 第四章 CeO_2掺杂对Mn-Ni-Cu-O系NTC热敏陶瓷电性能的影响 | 第42-53页 |
| 4.1 实验过程 | 第43-44页 |
| 4.2 实验结果与讨论 | 第44-51页 |
| 4.2.1 样品相组成 | 第44-45页 |
| 4.2.2 样品微观结构 | 第45-48页 |
| 4.2.3 电学性能 | 第48-50页 |
| 4.2.4 老化性能 | 第50-51页 |
| 4.3 结论 | 第51-53页 |
| 第五章 掺杂低熔点金属氧化物对Mn_(2.3)Ni_(0.5)Cu_(0.2)系热敏陶瓷电性能的影响 | 第53-62页 |
| 5.1 实验过程 | 第53-55页 |
| 5.1.1 样品制备过程 | 第53-54页 |
| 5.1.2 样品测试 | 第54-55页 |
| 5.2 Mn_(2.3)Ni_(0.5)Cu_(0.2)-xBi_2O_3体系的电性能研究 | 第55-57页 |
| 5.2.1 样品相组成和微观结构 | 第55-56页 |
| 5.2.2 样品电学性能 | 第56-57页 |
| 5.3 Mn_(2.3)Ni_(0.5)Cu_(0.2)-xLi_2O体系的电性能研究 | 第57-59页 |
| 5.3.1 样品相组成和微观结构 | 第57-58页 |
| 5.3.2 样品电学性能 | 第58-59页 |
| 5.4 Mn_(2.3)Ni_(0.5)Cu_(0.2)-xBi_2O_3系样品的老化性能 | 第59-60页 |
| 5.5 结论 | 第60-62页 |
| 第六章 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第70页 |
