基于主元分析的交流接触器的关键特征参数分析
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第8-10页 |
| 1.2 低压电器特征参数的发展现状 | 第10页 |
| 1.3 多元统计分析技术及主元分析法的发展现状 | 第10-14页 |
| 1.3.1 多元统计分析技术的发展 | 第10-13页 |
| 1.3.2 主元分析法的发展 | 第13-14页 |
| 1.4 本文主要研究内容及论文结构 | 第14-16页 |
| 1.4.1 主要研究工作 | 第14页 |
| 1.4.2 论文结构 | 第14-16页 |
| 第二章 交流接触器的电寿命试验装置和特征参数 | 第16-32页 |
| 2.1 试验装置的主要性能及技术指标 | 第16-18页 |
| 2.1.1 试验装置的主要性能 | 第16-17页 |
| 2.1.2 试验装置的主要技术指标 | 第17-18页 |
| 2.2 试验装置的软硬件设计 | 第18-22页 |
| 2.2.1 主电路设计 | 第18-19页 |
| 2.2.2 试验模式及动作顺序 | 第19-20页 |
| 2.2.3 信号采集电路设计 | 第20页 |
| 2.2.4 试验装置的软件设计 | 第20-22页 |
| 2.3 试验对象及试验条件 | 第22-23页 |
| 2.4 交流接触器的特征参数 | 第23-32页 |
| 2.4.1 燃弧时间分析 | 第24-26页 |
| 2.4.2 燃弧能量分析 | 第26-28页 |
| 2.4.3 燃弧电量分析 | 第28-32页 |
| 第三章 主元分析法原理 | 第32-42页 |
| 3.1 主元分析法的基本思想 | 第32-34页 |
| 3.2 主元分析法的数学推导 | 第34-36页 |
| 3.3 关键特征参数的主元建模过程 | 第36-38页 |
| 3.4 主元数目的确定 | 第38-42页 |
| 第四章 基于主元分析的交流接触器的电寿命预测 | 第42-54页 |
| 4.1 交流接触器关键特征参数的主元分析 | 第42-49页 |
| 4.2 交流接触器的剩余寿命预测 | 第49-54页 |
| 第五章 结论 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
