粒子位置和粒径的IPI测量
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 粒子场测量的意义 | 第8页 |
| 1.2 干涉粒子成像(IPI)测量技术的研究现状 | 第8-11页 |
| 1.3 课题来源及论文主要工作 | 第11-12页 |
| 1.4 小结 | 第12-13页 |
| 第二章 干涉粒子成像测量技术的基本理论 | 第13-25页 |
| 2.1 粒子散射光分析 | 第13-14页 |
| 2.2 IPI的理论模型 | 第14-23页 |
| 2.2.1 粒子圆形干涉条纹图光场分布 | 第14-21页 |
| 2.2.2 粒子线形干涉条纹图光场分布 | 第21-23页 |
| 2.3 IPI的粒径测量公式 | 第23-24页 |
| 2.4 小结 | 第24-25页 |
| 第三章 粒子条纹图像处理算法及其性能分析 | 第25-58页 |
| 3.1 IPI粒子条纹图像处理算法 | 第25-26页 |
| 3.2 粒子干涉条纹图定位算法 | 第26-36页 |
| 3.2.1 单向梯度匹配算法基本原理 | 第26页 |
| 3.2.2 粒子圆形条纹图定位 | 第26-28页 |
| 3.2.3 粒子线形条纹图定位 | 第28-31页 |
| 3.2.4 算法性能比较 | 第31-34页 |
| 3.2.5 识别率分析 | 第34-36页 |
| 3.3 基于傅里叶变换技术的条纹频率提取算法 | 第36-41页 |
| 3.3.1 改进Rife算法 | 第37-39页 |
| 3.3.2 粒子条纹图频率提取及误差分析 | 第39-41页 |
| 3.4 频率提取与重叠系数的关系 | 第41-56页 |
| 3.4.1 粒子圆形条纹图重叠 | 第41-50页 |
| 3.4.2 粒子线形条纹图重叠 | 第50-54页 |
| 3.4.3 单向梯度匹配算法极限情况分析 | 第54-56页 |
| 3.5 小结 | 第56-58页 |
| 第四章 粒子位置与粒径测量 | 第58-81页 |
| 4.1 粒子定位算法验证性实验 | 第58-69页 |
| 4.1.1 实验光路及粒子位置测量方法 | 第58-59页 |
| 4.1.2 粒子位置测量实验结果 | 第59-69页 |
| 4.2 粒子粒径测量 | 第69-80页 |
| 4.2.1 实验光路设置 | 第69-70页 |
| 4.2.2 圆形干涉条纹图粒径测量 | 第70-75页 |
| 4.2.3 线形干涉条纹图粒径测量 | 第75-80页 |
| 4.3 小结 | 第80-81页 |
| 第五章 总结与展望 | 第81-83页 |
| 5.1 论文研究成果 | 第81-82页 |
| 5.2 研究工作展望 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
