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还原再氧化工艺制备Pr-ZnO基压敏陶瓷

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第9-18页
    1.1 研究目的及意义第9页
    1.2 压敏电阻材料体系的分类及体系选择第9-14页
    1.3 以ZnO压敏材料为代表的压敏理论模型第14-17页
    1.4 研究内容第17-18页
2 实验过程及测试方法第18-23页
    2.1 实验设备及原料第18-19页
    2.2 材料制备及测试方法第19-23页
3 还原再氧化制备ZnO-Pr_6O_(11-_Co_2O_(3-x)MnO_2压敏陶瓷第23-33页
    3.1 引言第23页
    3.2 还原再氧化工艺的烧结特征第23-28页
    3.3 还原再氧化工艺下电学特征第28-32页
    3.4 本章小节第32-33页
4 BN掺杂对还原再氧化工艺的影响第33-50页
    4.1 引言第33页
    4.2 BN掺杂量对密度、微观结构和电性能的影响第33-37页
    4.3 烧结温度和再氧化温度对微观结构和压敏性能的影响第37-42页
    4.4 再氧化中的相成分和缺陷变化第42-48页
    4.5 本章小节第48-50页
5 结论与展望第50-52页
    5.1 结论第50-51页
    5.2 展望第51-52页
致谢第52-53页
参考文献第53-57页

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