摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-20页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第10-12页 |
1.2 红外热成像检测技术 | 第12-16页 |
1.2.1 红外热成像检测技术概述 | 第12-13页 |
1.2.2 红外热成像检测技术发展现状 | 第13-16页 |
1.3 热成像中材料表面热发射率概况及研究进展 | 第16-18页 |
1.3.1 材料表面发射率概况 | 第16页 |
1.3.2 红外热成像检测中材料表面发射率的国内外研究现状 | 第16-18页 |
1.4 主要内容和章节安排 | 第18-20页 |
第二章 红外热成像检测技术及材料表面热发射率的研究 | 第20-33页 |
2.1 红外热成像理论基础 | 第20-23页 |
2.1.1 红外辐射及红外辐射基本定律 | 第20-22页 |
2.1.2 红外热像仪原理 | 第22-23页 |
2.2 红外热成像无损检测原理 | 第23-25页 |
2.3 红外热成像无损检测系统 | 第25-28页 |
2.4 发射率的定义及影响因素 | 第28-31页 |
2.4.1 发射率的定义 | 第28-29页 |
2.4.2 发射率的影响因素 | 第29-31页 |
2.5 热发射率不均对热成像检测的影响形式 | 第31-32页 |
2.6 本章小结 | 第32-33页 |
第三章 材料表面热发射率影响热成像检测的机理研究 | 第33-53页 |
3.1 热传递理论 | 第33-35页 |
3.1.1 热传导 | 第33-34页 |
3.1.2 热对流 | 第34-35页 |
3.1.3 热辐射 | 第35页 |
3.2 热传递有限差分模型 | 第35-39页 |
3.2.1 表面单元体的有限差分模型 | 第36-38页 |
3.2.2 非表面单元体的有限差分模型 | 第38-39页 |
3.3 热发射率对热成像的影响机理 | 第39-52页 |
3.3.1 材料表面温度影响因素的数值仿真分析 | 第39-47页 |
3.3.2 材料表面温度影响因素的实验分析 | 第47-50页 |
3.3.3 热发射率影响热成像的本质 | 第50-52页 |
3.4 本章小结 | 第52-53页 |
第四章 热成像中材料表面发射率不均的抑制方法 | 第53-76页 |
4.1 基于温度与热发射率分离的方法 | 第53-59页 |
4.1.1 二次热平衡法 | 第54-57页 |
4.1.2 归一化 | 第57-59页 |
4.2 基于Kmeans聚类算法的曲线形态相似性的方法 | 第59-65页 |
4.2.1 Kmeans聚类算法 | 第60-63页 |
4.2.2 热响应曲线形态的相关分析 | 第63-65页 |
4.3 基于异常区域定位的方法 | 第65-75页 |
4.3.1 缺陷端点定位 | 第66-72页 |
4.3.2 缺陷端点增强 | 第72-73页 |
4.3.3 实验测试 | 第73-75页 |
4.4 本章小结 | 第75-76页 |
第五章 总结与展望 | 第76-79页 |
5.1 全文工作总结 | 第76-77页 |
5.2 后续工作展望 | 第77-79页 |
致谢 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第84-85页 |